[发明专利]天线测量系统及天线测量方法在审
申请号: | 202110193397.0 | 申请日: | 2021-02-20 |
公开(公告)号: | CN113014333A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 王卫民;高忠雄;吴永乐;张志华 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H04B17/10 | 分类号: | H04B17/10 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 杜秀科;丁芸 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 测量 系统 测量方法 | ||
本公开实施例提供了一种天线测量系统及天线测量方法。天线测量系统包括:网络分析仪、功分器、上变频器、波导探头和下变频器,网络分析仪用于将射频信号发送至上变频器,将本振信号发送至功分器;功分器用于将本振信号拆分为第一子本振信号和第二子本振;上变频器用于对射频信号和第一子本振信号进行变频处理,获得经变频后的射频信号和参考中频信号;波导探头用于将经变频后的射频信号辐射出;下变频器用于对第二子本振信号和天线测量信号进行变频处理,获得测试中频信号,将测试中频信号发送至网络分析仪;网络分析仪还用于基于参考中频信号的参数和测试中频信号的参数之间的差异,获得待测量天线的性能参数。
技术领域
本公开涉及无线通信技术领域,特别是涉及一种天线测量系统及天线测量方法。
背景技术
随着移动信息技术的发展,对高性能、高精度天线的需求愈发广泛,因此,作为评估天线性能的天线测量系统也越来越重要。近场测量技术通常采用一个特性已知的探头,在距离待测天线几个波长的范围内的某一个表面进行数据采样,将采样获得的数据发送至矢量网络分析仪,由矢量网络分析仪根据数据获得幅相特性,接着经过数学计算变换得到天线远场方向图。
相关技术中,为实现对高频天线的测量,例如,为实现对毫米波天线的测量,近场测量技术所使用的天线测量系统中,通常采用高性能矢量网络分析仪。但是高性能矢量网络分析仪的价格较高,因此,导致天线测量系统的成本较高。
发明内容
本公开实施例的目的在于提供一种天线测量系统及天线测量方法,以实现满足毫米波天线测量要求的同时,降低天线测量系统的成本。具体技术方案如下:
根据本公开实施例的一个方面,提供一种天线测量系统,其特征在于,包括:网络分析仪、功分器、上变频器、波导探头和下变频器,其中:
所述网络分析仪,用于产生射频信号和本振信号,将所述射频信号发送至所述上变频器,将所述本振信号发送至所述功分器;
所述功分器,与所述网络分析仪电连接,用于接收所述本振信号,并将所述本振信号拆分为第一子本振信号和第二子本振信号,将所述第一子本振信号发送至所述上变频器,将所述第二子本振信号发送至所述下变频器;
所述上变频器,分别与所述网络分析仪和所述功分器电连接,用于接收所述射频信号和所述第一子本振信号,并对所述射频信号和所述第一子本振信号进行变频处理,获得经变频后的射频信号和参考中频信号,将所述经变频后的射频信号发送至所述波导探头,将所述参考中频信号发送至所述网络分析仪;
所述波导探头,与所述上变频器电连接,用于接收所述经变频后的射频信号,并将所述经变频后的射频信号辐射出,以使待测量天线能够收到所述经变频后的射频信号;
所述下变频器,分别与所述网络分析仪和所述功分器电连接,用于接收所述第二子本振信号和待测量天线发射的天线测试信号,对所述第二子本振信号和所述天线测量信号进行变频处理,获得测试中频信号,将所述测试中频信号发送至所述网络分析仪;
所述网络分析仪,还用于接收所述参考中频信号和所述测试中频信号,并基于所述参考中频信号的参数和所述测试中频信号的参数之间的差异,获得待测量天线的性能参数。
在一些实施例中,所述上变频器包括:相互电连接的第一倍频器和第一混频器;
所述第一倍频器,用于接收所述射频信号,对所述射频信号进行变频处理,获得所述经变频后的射频信号,将所述经变频后的射频信号发送至所述波导探头和所述第一混频器;
所述第一混频器,用于接收所述经变频后的射频信号和所述第一子本振信号,对所述经变频后的射频信号和所述第一子本振信号进行混频处理,获得所述参考中频信号,将所述参考中频信号发送至所述网络分析仪。
在一些实施例中,所述下变频器包括:依次相互电连接的第二倍频器、第二混频器、滤波器和第一功率放大器;
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