[发明专利]天线测量系统及天线测量方法

权利要求书

1.一种天线测量系统，其特征在于，包括：网络分析仪、功分器、上变频器、波导探头和下变频器，其中：

所述网络分析仪，用于产生射频信号和本振信号，将所述射频信号发送至所述上变频器，将所述本振信号发送至所述功分器；

所述功分器，与所述网络分析仪电连接，用于接收所述本振信号，并将所述本振信号拆分为第一子本振信号和第二子本振信号，将所述第一子本振信号发送至所述上变频器，将所述第二子本振信号发送至所述下变频器；

所述上变频器，分别与所述网络分析仪和所述功分器电连接，用于接收所述射频信号和所述第一子本振信号，并对所述射频信号和所述第一子本振信号进行变频处理，获得经变频后的射频信号和参考中频信号，将所述经变频后的射频信号发送至所述波导探头，将所述参考中频信号发送至所述网络分析仪；

所述波导探头，与所述上变频器电连接，用于接收所述经变频后的射频信号，并将所述经变频后的射频信号辐射出，以使待测量天线能够收到所述经变频后的射频信号；

所述下变频器，分别与所述网络分析仪和所述功分器电连接，用于接收所述第二子本振信号和待测量天线发射的天线测试信号，对所述第二子本振信号和所述天线测量信号进行变频处理，获得测试中频信号，将所述测试中频信号发送至所述网络分析仪；

所述网络分析仪，还用于接收所述参考中频信号和所述测试中频信号，并基于所述参考中频信号的参数和所述测试中频信号的参数之间的差异，获得待测量天线的性能参数。

2.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，所述上变频器包括：相互电连接的第一倍频器和第一混频器；

所述第一倍频器，用于接收所述射频信号，对所述射频信号进行变频处理，获得所述经变频后的射频信号，将所述经变频后的射频信号发送至所述波导探头和所述第一混频器；

所述第一混频器，用于接收所述经变频后的射频信号和所述第一子本振信号，对所述经变频后的射频信号和所述第一子本振信号进行混频处理，获得所述参考中频信号，将所述参考中频信号发送至所述网络分析仪。

3.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，所述下变频器包括：依次相互电连接的第二倍频器、第二混频器、滤波器和第一功率放大器；

所述第二倍频器，用于接收所述第二子本振信号，对所述第二子本振信号进行变频处理，获得经变频后的子本振信号，将所述经变频后的子本振信号发送至所述第二混频器；

所述第二混频器，用于接收所述天线测试信号和所述经变频后的子本振信号，对所述天线测试信号和所述经变频后的子本振信号进行混频处理，获得经混频后的测试信号，将所述经混频后的测试信号发送至所述滤波器；

所述滤波器，用于接收所述经混频后的测试信号，对所述经混频后的测试信号进行滤波处理，获得经滤波后的测试信号，将所述经滤波后的测试信号发送至所述第一功率放大器；

所述第一功率放大器，用于接收所述经滤波后的测试信号，对所述经滤波后的测试信号进行功率放大处理，获得所述测试中频信号，将所述测试中频信号发送至所述网络分析仪，其中，所述测试中频信号的频段与所述下变频器的设备频段相同。

4.根据权利要求3所述的天线测量系统，其特征在于，所述下变频器还包括与所述第二混频器电连接的带通滤波器，所述第二混频器通过所述带通滤波器接收所述天线测试信号；

所述带通滤波器，用于接收所述天线测试信号，对所述天线测试信号进行滤波处理，获得经滤波后的测试信号，将所述经滤波后的测试信号发送至所述第二混频器，其中，所述经滤波后的测试信号的频段与所述经变频后的射频信号的频段相同；

所述第二混频器，具体用于接收所述经滤波后的测试信号和所述经变频后的子本振信号，对所述经滤波后的测试信号和所述经变频后的子本振信号进行混频处理，获得经混频后的测试信号，将所述经混频后的测试信号发送至所述滤波器。