[发明专利]智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法以及装置

说明书

本申请提出一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法、装置和电子设备。其中，该方法包括：在智能终端OLED面板的制造过程中，确定针对智能终端OLED面板的当前制造阶段；获取当前制造阶段下的面板的拍摄图像；确定当前拍摄图像的类型，并根据类型确定对应的缺陷检测方式；以及根据对应的缺陷检测方式对拍摄图像进行检测，并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。本申请可以及时检测发现制造进程中的面板上出现的缺陷，以便于对能够进行修复的进行及时修复，不能进行修复的放弃后续工艺，从而可以极大地提高生产良率，降低生产成本。

技术领域

本申请涉及智能终端制造技术领域，尤其涉及一种智能终端OLED(OrganicLight-Emitting Diode，有机发光二极管)面板制造工艺的缺陷检测方法、装置和电子设备。

背景技术

随着互联网的发展，用户对智能设备的需求越来越大，与此同时，用户对这些智能设备的显示模块也提出了越来越高的要求，随着制造工艺的发展，显示模块中的OLED面板的分辨率越来越高，尺寸越来越大，刷新频率越来越高，色彩越来越饱满多样，这些实际需求对显示设备提出了巨大的要求，各种最新的面板也不断出现在最新的智能设备上，其中，手机液晶面板是用户接触最多的一类显示设备，其质量高低是消费者选择手机时的重要考量指标。

手机等智能设备的显示面板是典型的半导体平面加工制造工艺，在硅片、玻璃等基底上，利用离子注入、光刻、镀膜、刻蚀等半导体加工工艺进行生产的。半导体加工过程对车间环境的洁净程度十分苛刻，工艺繁琐复杂且环节多，对精度、加工质量的要求高，任何一个中间过程的不达标都会导致产品产生缺陷，严重的会导致产品的失败，典型的液晶面板制造缺陷有色差(Mura)、刻蚀残留、脏污、异物、镀膜缺陷等类型。因此，如何及时检测发现制造进程中的面板上出现的缺陷，已经称为亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本申请的第一个目的在于提出一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法，可以及时检测发现制造进程中的面板上出现的缺陷，对能够进行修复的进行及时修复，不能进行修复的放弃后续工艺，从而可以极大地提高生产良率，降低生产成本。

本申请的第二个目的在于提出一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测装置。

本申请的第三个目的在于提出一种电子设备。

为达上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法，包括：

在智能终端OLED面板的制造过程中，确定针对所述智能终端OLED面板的当前制造阶段；获取对所述当前制造阶段下的面板的拍摄图像；确定所述拍摄图像的类型，并根据所述类型确定对应的缺陷检测方式；以及根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。

为达上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测装置，包括：

第一确定模块，用于在智能终端OLED面板的制造过程中，确定针对所述智能终端OLED面板的当前制造阶段；获取模块，用于获取对所述当前制造阶段下的面板的拍摄图像；第二确定模块，用于确定所述拍摄图像的类型，并根据所述类型确定对应的缺陷检测方式；以及检测模块，用于根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。

为达上述目的，本申请第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现本申请第一方面实施例所述的智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法。