[发明专利]智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法以及装置

权利要求书

1.一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

在智能终端OLED面板的制造过程中，确定针对所述智能终端OLED面板的当前制造阶段；

获取对所述当前制造阶段下的面板的拍摄图像；

确定所述拍摄图像的类型，并根据所述类型确定对应的缺陷检测方式，其中，所述确定所述拍摄图像的类型，并根据所述类型确定对应的缺陷检测方式，包括：当所述类型为第一类型时，确定所述对应的缺陷检测方式为第一缺陷检测方式；所述第一缺陷检测方式为针对无周期性的缺陷图片进行检测的方式；当所述类型为第二类型时，确定所述对应的缺陷检测方式为第二缺陷检测方式；所述第二缺陷检测方式为针对有周期性的缺陷图片进行检测的方式；以及

根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述对应的缺陷检测方式为所述第一缺陷检测方式；所述根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，包括：

采用多种图像滤波方式对所述拍摄图像进行预处理，以获得多张图像；其中，每张图像为采用对应种类的滤波方式对所述拍摄图像进行预处理后得到的图像；

分别在每张所述图像上进行显著性检测，并根据目标阈值对每张所述图像的显著性检测结果中的散点进行过滤，以获得每张所述图像对应的检测图像；

将每张检测图像按照像素值相乘，以获得目标检测图像；

计算所述目标检测图像之中的连通域，并将所述目标检测图像之中的最大连通域确定为所述拍摄图像中存在的缺陷。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述对应的缺陷检测方式为所述第二缺陷检测方式；所述根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，包括：

将所述拍摄图像分别与多张模板图像进行模板匹配，获得多张与所述拍摄图像匹配的目标模板区域，并根据所述拍摄图像和多张目标模板区域，生成多张掩膜图片；

将所述多张掩膜图片进行像素值按位相乘操作，判断经过相乘操作后得到的图像中是否存在差异区域；

若所述经过相乘操作后得到的图像中存在差异区域，则确定所述拍摄图像中存在缺陷；

若所述经过相乘操作后得到的图像中不存在差异区域，则确定所述拍摄图像中无缺陷。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述拍摄图像分别与多张模板图像进行模板匹配，获得多张与所述拍摄图像匹配的目标模板区域，并根据所述拍摄图像和多张目标模板区域，生成多张掩膜图片，包括：

针对每张所述模板图像，将所述拍摄图像进行分割，获得针对所述拍摄图像的多个分割区域；

将每个所述分割区域分别与所述模板图像进行模板匹配，获得每个所述分割区域的模板匹配区域；

将每个所述分割区域与每个所述分割区域对应的模板匹配区域进行像素点减法操作并保留差值的绝对值，获得一张掩膜图片。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

计算所述经过相乘操作后得到的图像之中各连通域内的所有非零像素点的平均值，并将各平均值作为对应连通域的平均亮度；

将平均亮度最大的区域作为所述拍摄图像之中缺陷所在的位置。

6.一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于在智能终端OLED面板的制造过程中，确定针对所述智能终端OLED面板的当前制造阶段；

获取模块，用于获取对所述当前制造阶段下的面板的拍摄图像；

第二确定模块，用于确定所述拍摄图像的类型，并根据所述类型确定对应的缺陷检测方式；以及

检测模块，用于根据所述对应的缺陷检测方式对所述拍摄图像进行检测，并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。