[发明专利]光栅相位图处理方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种光栅相位图处理方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待处理的光栅相位图；

基于聚类算法，对所述光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正，包括：

确定出所述光栅相位图中的各列像素点的第一相位值；所述第一相位值为所述光栅相位图中的像素点在水平投影方向上的相位值；

确定各列像素点的第一相位值中的最大值和最小值的第一差值；

确定所述第一差值大于预设差值的列为异常列；

对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值进行修正，包括：

针对每个异常列，对该异常列的像素点的第一相位值根据大小顺序进行排序，得到排序结果；

从所述排序结果中的最小值开始，基于预设步长，将所述排序结果中的第一相位值划分为多个相位聚类簇；

确定出各个相位聚类簇中包含的元素的数量；

确定所述数量小于阈值的聚类簇为异常聚类簇；

对所述光栅相位图中与所述异常聚类簇对应的像素点的第一相位值进行修正；

在所述确定出各个相位聚类簇中包含的元素的数量之后，所述方法还包括：

从所述数量大于等于所述阈值的聚类簇中，确定出所述数量最小的待甄别聚类簇；

根据所述待甄别聚类簇对应的像素点的坐标位置，确定出所述待甄别聚类簇对应的像素点的分布密度；

确定出所述分布密度小于预设密度的目标聚类簇；

对应的，所述对所述光栅相位图中与所述异常聚类簇对应的像素点的第一相位值进行修正，包括：

对所述光栅相位图中所述异常聚类簇，以及所述目标聚类簇对应的像素点的第一相位值进行修正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定出所述光栅相位图中的各行像素点的第二相位值；所述第二相位值为所述光栅相位图中的像素点在垂直投影方向上的所述相位值；

确定各行像素点的第二相位值中的最大值和最小值的第二差值；

确定所述第二差值大于所述预设差值的行为异常行；

对应的，对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值进行修正，包括：

对所述光栅相位图中所述异常列的像素点的第一相位值，以及所述异常行的像素点的第二相位值进行修正。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述对所述光栅相位图中异常的像素点的相位值进行修正之后，所述方法还包括：

基于预设移动步长，在初步修正后的光栅相位图中移动预设滑动窗口，确定出位于所述滑动窗口内的各个像素点；

确定出所述滑动窗口内的像素点的所述第一相位值；

针对所述滑动窗口内的每个像素点，确定该像素点的第一相位值是否满足第一规律；其中，所述第一规律为竖直方向上的像素点的第一相位值，从上至下依次递增；水平方向上的任意相邻两个像素点的第一相位值之间的差值小于预设门限值；

在确定不满足所述第一规律时，基于所述第一规律和所述滑动窗口内的像素点中与该像素点相邻的像素点的第一相位值，对该像素点的第一相位值进行修正。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定出所述滑动窗口内的像素点的所述第二相位值；

针对所述滑动窗口内的每个像素点，确定该像素点的第二相位值是否满足第二规律；其中，所述第二规律为水平方向上的像素点的第二相位值，从左至右依次递增；竖直方向上的任意相邻两个像素点的第二相位值之间的差值小于所述预设门限值；

在确定不满足所述第二规律时，基于所述第二规律和所述滑动窗口内的像素点中与该像素点相邻的像素点的第二相位值，对该像素点的第二相位值进行修正。