[发明专利]显微图像校正方法、装置、设备、存储介质及产品

权利要求书

1.一种显微图像校正方法，其特征在于，包括：

获取待校正的多个显微图像，并对各所述显微图像进行分割，以生成对应的切片图像，所述切片图像包括所述显微图像中的切片区域；

对各所述切片图像进行关键点检测，根据各切片图像的关键点确定切片图像之间的匹配图像对，所述匹配图像对中包括互相匹配的两个切片图像；

将所述匹配图像对中的其中一个切片图像确定为校正基准图像，另一个切片图像确定为目标校正图像，并根据所述校正基准图像的关键点和所述目标校正图像的关键点对所述目标校正图像进行像素点的像素值校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对各所述显微图像进行分割，包括：

将各所述显微图像中各个像素点的RGB三个颜色通道的最大值确定为像素点的像素值；

针对每个显微图像，从边界像素点至中心像素点的连线方向上，将第一个像素值大于预设阈值的像素点确认为切片边界点；

根据所有的切片边界点对切片区域进行形状拟合，以确定切片区域边界；

根据所述切片区域边界对各所述显微图像进行分割。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述校正基准图像的关键点和所述目标校正图像的关键点对所述目标校正图像进行像素点的像素值校正，包括：

根据所述校正基准图像的关键点和所述目标校正图像的关键点确定所述校正基准图像和所述目标校正图像之间的单应性矩阵；

根据所述单应性矩阵确定所述校正基准图像和所述目标校正图像之间的像素点交集；

根据所述像素点交集通过预设的像素值校正模型对所述目标校正图像进行像素点的像素值校正。

4.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述对各所述切片图像进行关键点检测之前，还包括：

计算所述切片图像的所有像素点在各个颜色通道中的像素平均值和像素方差值；

根据像素平均值和像素方差值通过预设的校正掩模配置策略配置校正掩模；

根据所述校正掩模对所述切片图像各个像素点的各个颜色通道进行颜色校正。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述计算所述切片图像的所有像素点在各个颜色通道中的像素平均值和像素方差值，包括：

将所述切片图像由RGB空间转化到lab空间，并对lab空间中切片图像各个像素点的a和b通道进行平滑操作；

计算所述切片图像的所有像素点在a、b通道中的像素平均值和像素方差值。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述校正掩模对所述切片图像各个像素点的各个颜色通道进行颜色校正，包括：

对设置好的校正掩模进行平滑操作；

根据平滑后的校正掩模通过预设的颜色校正算法对所述切片图像各个像素点的a和b通道进行校正；

将校正后的所述切片图像由lab空间转换到RGB空间。

7.一种显微图像校正装置，其特征在于，包括：

分割模块，用于获取待校正的多个显微图像，并对各所述显微图像进行分割，以生成对应的切片图像，所述切片图像包括所述显微图像中的切片区域；

匹配图像对确定模块，用于对各所述切片图像进行关键点检测，根据各切片图像的关键点确定切片图像之间的匹配图像对，所述匹配图像对中包括互相匹配的两个切片图像；

像素值校正模块，用于将所述匹配图像对中的其中一个切片图像确定为校正基准图像，另一个切片图像确定为目标校正图像，并根据所述校正基准图像的关键点和所述目标校正图像的关键点对所述目标校正图像进行像素点的像素值校正。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，处理器；

存储器；用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为由所述处理器执行如权利要求1至6任一项所述的显微图像校正方法。