[发明专利]一种内存设备质量评估方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种内存设备质量评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取所述内存设备的性能参数；

将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；

根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。

2.根据权利要求1所述的一种内存设备质量评估方法，其特征在于，所述获取所述内存设备的性能参数包括：

在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；

获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率；

其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压Vdd、Vref的波动；所述时序参数包括tCL、tRCD、tRP、tRFC、tWR、tDelay。

3.根据权利要求2所述的一种内存设备质量评估方法，其特征在于，所述将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二性能标准参数进行比对，并获取比对结果包括：

将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为Jedec协会内存性能标准参数；

将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；

其中，自设计内存性能标准高于Jedec协会内存性能标准。

4.根据权利要求3所述的一种内存设备质量评估方法，其特征在于，所述根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价包括：

当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为A类产品；

当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为B类产品；

当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为C类产品。

5.一种内存设备质量评估装置，其特征在于，所述装置包括：

性能参数获取单元，用于获取所述内存设备的性能参数；

性能参数比对单元，用于将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；

等级评价单元，用于根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。

6.根据权利要求5所述的一种内存设备质量评估装置，其特征在于，所述性能参数获取单元包括：

参数获取模块，用于在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；

出错比率获取模块，用于获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率；

其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压Vdd、Vref的波动；所述时序参数包括tCL、tRCD、tRP、tRFC、tWR、tDelay。

7.根据权利要求5所述的一种内存设备质量评估装置，其特征在于，所述性能参数比对单元包括：

第一比对结果获取模块，用于将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为Jedec协会内存性能标准参数；

第二比对结果获取模块，用于将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；

其中，自设计内存性能标准高于Jedec协会内存性能标准。

8.根据权利要求7所述的一种内存设备质量评估装置，其特征在于，所述等级评价单元包括：

第一等级判定模块，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为A类产品；

第二等级判定模块，用于当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为B类产品；

第三等级判定模块，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为C类产品。