[发明专利]基于核酸检测芯片安装仓的上盖有效
申请号: | 202110055530.6 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN113174307B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 范东雨;王宏伟;任玮鹏;吴世超;蔡亦梅;高静;任鲁风 | 申请(专利权)人: | 北京中科生仪科技有限公司 |
主分类号: | C12M1/00 | 分类号: | C12M1/00;C12M1/34;C12Q1/6837 |
代理公司: | 北京精金石知识产权代理有限公司 11470 | 代理人: | 姜艳华 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 核酸 检测 芯片 安装 | ||
1.一种基于核酸检测芯片安装仓的上盖,其特征在于,包括:顶盖和侧板,所述顶盖为长条板状,所述侧板设置在所述顶盖的长边侧,与所述顶盖固定连接一体成型;
所述侧板的一端设置有连接孔,连接孔用以与上壳的连接耳可拆卸连接,所述顶盖远离所述连接孔的一端设置有第一凸起,所述第一凸起用以与所述上壳的连接凹槽卡合;
所述顶盖的内侧包括第一凸台、第二凸台和第三凸台,所述第二凸台设置在所述第一凸台和第三凸台的中间,所述第二凸台的高度高于所述第三凸台的高度,所述第三凸台的高度高于所述第一凸台,所述第一凸台靠近所述第一凸起,所述第二凸台与所述第三凸台邻接;所述第二凸台设置有两个,且其沿着所述顶盖的中线对称设置;所述第三凸台远离所述第一凸起,所述第三凸台位于两个所述第二凸台之间;
所述第二凸台的内侧设置有定位柱,所述定位柱用以与待检测芯片上的定位孔配合;
所述待检测芯片包括设置在最上端的加样层、设置在加样层下侧的垫片和设置在垫片下侧的管路层;
其中,
所述加样层上侧设置有加样孔,用以向芯片内添加样品,注入芯片内的样品依次经过核酸提取、纯化、扩增反应;
所述加样层与管路层通过卡条与设置在管路层侧部的限位架活动连接,相应的,在限位架的内侧设置有第一卡槽,第一卡槽通过卡条相互配合连接,以实现加样层和管路层的相对位置切换和固定;
第二卡槽,所述第二卡槽设置在所述限位架的内侧,位于所述第一卡槽的下方;
在运输或存储时,所述加样层与所述第一卡槽连接;
在使用时,将所述垫片抽出,向下按压所述加样层,使得所述加样层与所述第二卡槽连接,同时,刺针设置在管路层上的立柱上,用以刺破设置在所述加样层内的试剂,以使试剂和样品进行混合反应;
当所述加样层与所述管路层压合后,设置在所述加样层底部的第一应变片检测所述加样层和所述管路层之间的挤压力,用以确定所述加样层和所述管路层在压合过程中受力的均匀性;
还包括有控制单元,所述控制单元根据所述第一应变片的应力大小确定所述定位柱插入所述定位孔的深度,以使所述待检测芯片和所述上盖安装后的厚度在预设范围内。
2.根据权利要求1所述的基于核酸检测芯片安装仓的上盖,其特征在于,所述第三凸台上设置有第二凸起,所述第二凸起上设置有通孔,所述通孔为圆形通孔,所述第二凸台为正方体;
所述第二凸台包括第一加强筋和第二加强筋,所述第一加强筋和所述第二加强筋对称设置,所述第一加强筋和所述第二加强筋结构相对称,所述第一加强筋包括第一直臂、第二直臂和第三直臂;所述第二加强筋包括第四直臂、第五直臂和第六直臂,所述第二直臂设置在所述第一直臂和所述第三直臂之间,所述第一直臂垂直所述第二直臂,所述第二直臂垂直所述第三直臂,所述第二直臂和所述第三直臂圆滑过渡连接;所述第五直臂设置在所述第四直臂和所述第六直臂之间,所述第四直臂垂直于所述第五直臂,所述第五直臂垂直于所述第六直臂,所述定位柱包括有第一定位柱和第二定位柱,所述第一定位柱设置在所述第三直臂的侧面,所述第二定位柱设置在所述第六直臂的侧面。
3.根据权利要求2所述的基于核酸检测芯片安装仓的上盖,其特征在于,所述待检测芯片还包括密封膜和第二应变片,所述密封膜设置在所述管路层的下侧,用以实现密封,所述第二应变片分别设置在所述第一卡槽和所述第二卡槽内;在所述第一卡槽内横向取M个位置,所述第二应变片检测所述M个位置处的应力,记为第一应力函数F,第一应力函数具体包括f1、f2……、fm,所述第二卡槽内选取的位置和所述第一卡槽内的位置一一对应,所述第二卡槽的第二应力函数为F’,第二应力函数具体包括f1’、f2’、……、fm’,根据所述第一应力函数和所述第二应力函数判断所述加样层的位置。
4.根据权利要求3所述的基于核酸检测芯片安装仓的上盖,其特征在于,在所述加样层与所述第一卡槽连接时,首先比较f1和fm,得到第一正差值,若所述第一正差值高于第一预设差值f0,则重新调整所述加样层;若所述第一正差值低于第一预设差值f0,则进行后续操作;
在所述加样层与所述第二卡槽连接时,比较f1’和fm’,得到第二正差值,若所述第二正差值高于第二预设差值f0’,则重新调整所述加样层;若所述第二正差值低于第二预设差值f0’,则进行后续操作。
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