[发明专利]用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法在审

专利信息
申请号: 202110045132.6 申请日: 2021-01-13
公开(公告)号: CN112858361A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 王震;邢文青;张幸英;欧福;张伟君;黄秋艳;郭婷;欧甲招;欧阳佳;陈颖 申请(专利权)人: 广东韶钢松山股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2202
代理公司: 韶关市雷门专利事务所 44226 代理人: 周胜明
地址: 512123 广东省韶关*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 熔融 法制 射线 荧光 光谱 测定 压渣剂 检测 方法
【权利要求书】:

1.用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,包括确定测试条件、绘制标准曲线和制备及检测试样,

确定测试条件,分别选用磷、铁、硫和硅的元素含量最高的标准玻璃熔片,分别置入X射线荧光光谱仪中,确定磷、铁、硅、硫元素的测试条件;

绘制标准曲线,取多个标准样品,对每个样品按以下方式制备,取无水四硼酸锂平铺在坩埚底部,加入标准样品和硝酸钠,用搅拌丝搅拌使无水四硼酸锂、硝酸钠和标准样品混匀,掸扫干净搅拌丝,再取无水四硼酸锂覆盖在混匀后的标准样品上,加入数滴溴化锂溶液,盖上坩埚盖,将坩埚置于熔样炉中进行预氧化和熔融处理,熔融时间结束后,待坩埚自然冷却,熔液在坩埚中形成玻璃熔片,从坩埚倒出玻璃熔片,待玻璃熔片冷却至室温后,以上述确定的测试条件将制备好的标准样品的玻璃熔片在X荧光仪上进行测量,得到标准样品中硅、铁、硫、磷元素的检测结果,并根据检测结果建立标准曲线;

制备及检测试样,取无水四硼酸锂平铺在坩埚底部,加入试样和硝酸钠,用搅拌丝搅拌使无水四硼酸锂、硝酸钠和试样混匀,掸扫干净搅拌丝,再取无水四硼酸锂覆盖在混匀后的试样上,加入数滴溴化锂溶液,盖上坩埚盖,将坩埚置于熔样炉中进行预氧化和熔融处理,熔融时间结束后,待坩埚自然冷却,熔液在坩埚中形成玻璃熔片,从坩埚倒出玻璃熔片,待玻璃熔片冷却至室温后,以上述确定的测试条件将制备好的试样的玻璃熔片在X荧光仪上进行测量,得到试样中硅、铁、硫、磷元素的检测结果,将检测结果与标准曲线对比,确定试样中硅、铁、硫、磷元素的含量。

2.如权利要求1所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在确定测试条件的步骤中,测试条件是电压、电流、分光晶体、滤光片、2θ角度和测量时间。

3.如权利要求2所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在确定测试条件的步骤中,测量时间设定为20s。

4.如权利要求1所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,所述标准样品包括高炉渣、精炼渣、硅石、转炉渣和铝矾土。

5.如权利要求4所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在绘制标准曲线的步骤中,采用经验系数法和理论α系数法对标准曲线进行基体校正和谱线重叠干扰校正。

6.如权利要求1所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在绘制标准曲线和制备及检测试样的步骤中,熔融条件是熔融时间为20-30min,温度1100-1200℃。

7.如权利要求1所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在绘制标准曲线的步骤中,分段灼烧标准样品后熔融,在熔融过程手动除气泡,制得标准样品的玻璃熔片。

8.如权利要求7所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在制备及检测试样的步骤中,分段灼烧试样后熔融,在熔融过程手动除气泡,制得试样的玻璃熔片。

9.如权利要求1所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在绘制标准曲线和制备及检测试样的步骤中,第一次取无水四硼酸锂的质量为1.5000-2.5000g,标准样品或试样的质量为0.1500-0.2500g,硝酸钠的质量为0.4500-0.5500g,第二次取无水四硼酸锂的质量为4.5000-5.5000g。

10.如权利要求9所述的用熔融法制样X射线荧光光谱法测定压渣剂的检测方法,其特征在于,在绘制标准曲线和制备及检测试样的步骤中,第一次取无水四硼酸锂、标准样品或试样、硝酸钠和第二次取无水四硼酸锂的质量比例为20:2:5:50。

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