[发明专利]轮廓检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种轮廓检测方法，其特征在于，所述轮廓检测方法包括：

获取待测物体的轮廓数据；

通过将所述待测物体的理论模型映射到所述待测物体的轮廓数据，进行所述待测物体的轮廓与所述理论模型的对比，以识别位于所述待测物体的轮廓的邻近区域内的所述理论模型的数据，作为偏差数据；

基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓相对于所述理论模型的偏差程度。

2.根据权利要求1所述的轮廓检测方法，其特征在于，所述基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓相对于所述理论模型的偏差程度，包括：

基于所述邻近区域的大小以及位于所述邻近区域内的所述偏差数据的数据量，检测所述待测物体的轮廓的偏差程度。

3.根据权利要求2所述的轮廓检测方法，其特征在于，

当所述邻近区域内的所述偏差数据的数据量大于或等于预定阈值时，判定所述待测物体的轮廓具有较小的偏差程度，并且当所述邻近区域内的所述偏差数据的数据量小于所述预定阈值时，判定所述待测物体的轮廓具有较大的偏差程度。

4.根据权利要求1-3任一项所述的轮廓检测方法，其特征在于，所述基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓相对于所述理论模型的偏差程度，包括：

将识别的所述偏差数据映射到所述理论模型中进行显示，并基于不同的颜色表示所述待测物体的轮廓的不同的偏差程度。

5.根据权利要求4所述的轮廓检测方法，其特征在于，

根据表示不同的所述偏差程度的不同颜色，对所述偏差数据进行分割处理，以获取所述待测物体的轮廓偏差的分布情况。

6.根据权利要求1所述的轮廓检测方法，其特征在于，所述基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓相对于所述理论模型的偏差程度，包括：

基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓的偏差类别；以及

利用不同的颜色，显示所述待测物体的轮廓的不同的偏差类别。

7.根据权利要求6所述的轮廓检测方法，其特征在于，所述偏差类别包括缺角和高度不齐。

8.根据权利要求1所述的轮廓检测方法，其特征在于，

所述待测物体的轮廓数据为三维的轮廓数据，所述待测物体的理论模型为三维模型，并且

通过将所述待测物体的理论模型映射到所述待测物体的轮廓数据，进行所述待测物体的轮廓与所述理论模型的三维对比。

9.一种轮廓检测装置，其特征在于，所述轮廓检测装置包括：

获取模块，用于获取待测物体的轮廓数据；

识别模块，用于通过将所述待测物体的理论模型映射到所述待测物体的轮廓数据，进行所述待测物体的轮廓与所述理论模型的对比，以识别位于所述待测物体的轮廓的邻近区域内的所述理论模型的数据，作为偏差数据；和

检测模块，用于基于识别的所述偏差数据，检测所述待测物体的轮廓相对于所述理论模型的偏差程度。

10.根据权利要求9所述的轮廓检测装置，其特征在于，所述检测模块基于所述邻近区域的大小以及所述偏差数据的在所述邻近区域内的数据量，检测所述待测物体的轮廓的偏差程度。

11.根据权利要求10所述的轮廓检测装置，其特征在于，当所述邻近区域内的所述偏差数据的数据量大于或等于预定阈值时，所述检测模块判定所述待测物体的轮廓具有较小的偏差程度，并且当所述邻近区域内的所述偏差数据的数据量小于所述预定阈值时，判定所述待测物体的轮廓具有较大的偏差程度。

12.根据权利要求9-11任一项所述的轮廓检测装置，其特征在于，所述检测模块将识别的所述偏差数据映射到所述理论模型中进行显示，并基于不同的颜色表示所述待测物体的轮廓的不同的偏差程度。