[发明专利]存储器件在审

专利信息
申请号: 202110022072.6 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN113451322A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 金江旻;高秉贤;权容真;申重植;尹健郁 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11565 分类号: H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11582
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 程丹辰
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 存储 器件
【说明书】:

公开了一种存储器件,其包括:衬底;在衬底上的下导电层;堆叠结构,包括交替地堆叠在下导电层上的栅极层和层间绝缘层;在沟道孔中的沟道结构,该沟道孔在垂直方向上穿透堆叠结构;以及在公共源极线沟槽中的公共源极线结构,该公共源极线沟槽在垂直方向上穿透下导电层和堆叠结构。公共源极线结构包括在公共源极线沟槽的侧表面上的侧绝缘层、在公共源极线沟槽的中央部分处的中央绝缘层、在侧绝缘层与中央绝缘层之间的居间导电层和在公共源极线沟槽的上部处的上导电层。

技术领域

本公开涉及存储器件,更具体地,涉及垂直非易失性存储器件。

背景技术

伴随着对多功能、高性能和小型化的信息通信装置的持续需求,需要具有增大的容量和集成的存储器件。根据这种趋势,开发了垂直非易失性存储器件,其包括堆叠在衬底上的多个栅极层且沟道结构在垂直方向上穿透所述多个栅极层。在这样的垂直非易失性存储器件中,可以通过增加堆叠在衬底上的栅极层的数量来增大存储容量。因此,通过使用垂直非易失性存储器件,可以实现增大的存储容量和集成。

发明内容

本发明构思的实施方式提供了具有减少的翘曲和减少的噪声的高度集成的存储器件。

本发明构思的实施方式提供了一种存储器件,其包括:衬底;在衬底上的下导电层;在下导电层上的堆叠结构,该堆叠结构包括交替地堆叠在下导电层上的栅极层和层间绝缘层;在沟道孔中的沟道结构,该沟道孔在垂直于衬底的上表面的垂直方向上穿透堆叠结构;以及在公共源极线沟槽中的公共源极线结构,该公共源极线沟槽在垂直方向上穿透下导电层和堆叠结构。公共源极线结构包括在公共源极线沟槽的侧表面上的侧绝缘层、在公共源极线沟槽的中央部分处的中央绝缘层、在侧绝缘层与中央绝缘层之间的居间导电层和在公共源极线沟槽的上部处的上导电层。

本发明构思的实施方式还提供了一种存储器件,其包括:衬底;在衬底上的下导电层;在下导电层上的堆叠结构,该堆叠结构包括交替地堆叠在下导电层上的栅极层和居间绝缘层;在沟道孔内的沟道结构,该沟道孔在垂直于衬底的上表面的垂直方向上穿透下导电层和堆叠结构;以及在公共源极线沟槽中的公共源极线结构,该公共源极线沟槽在垂直方向上穿透堆叠结构。公共源极线结构包括在公共源极线沟槽的侧表面上的侧绝缘层、在公共源极线沟槽的中央部分处的中央绝缘层、在侧绝缘层与中央绝缘层之间的居间导电层和在公共源极线沟槽的上部处的上导电层。居间导电层接触下导电层。

本发明构思的实施方式还提供了一种存储器件,其包括下结构和在下结构上的上结构。下结构包括衬底、在衬底上的外围电路和连接到外围电路的第一焊盘。上结构包括:堆叠结构,包括在垂直于衬底的上表面的垂直方向上交替地堆叠的栅极层和居间绝缘层;沟道结构,在垂直方向上穿透堆叠结构;公共源极线结构,在垂直方向上穿透堆叠结构;以及第二焊盘,连接到公共源极线结构。公共源极线结构包括中央绝缘层、在中央绝缘层的侧表面上的居间导电层、在居间导电层的侧表面上的侧绝缘层和在中央绝缘层的上端上的上导电层。上结构接触下结构,并且第二焊盘接触第一焊盘。

本发明构思的实施方式还提供了一种存储器件,其包括:衬底;在衬底上的下导电层;在下导电层上的堆叠结构,该堆叠结构包括交替地堆叠在下导电层上的栅极层和层间绝缘层;在沟道孔中的沟道结构,该沟道孔在垂直于衬底的上表面的垂直方向上穿透堆叠结构,该沟道结构延伸到衬底中;以及在公共源极线沟槽中的公共源极线结构,该公共源极线沟槽在垂直方向上穿透堆叠结构。公共源极线结构包括在公共源极线沟槽的侧表面上的侧绝缘层、在公共源极线沟槽的中央部分处的中央绝缘层、在侧绝缘层与中央绝缘层之间的居间导电层和在公共源极线沟槽的上部处的上导电层。居间导电层电接触衬底。

附图说明

本发明构思的实施方式将由以下结合附图的详细描述被更清楚地理解,附图中:

图1示出了根据本发明构思的实施方式的存储器件的示意性框图;

图2示出了根据本发明构思的实施方式的包括在存储器件的存储单元阵列中的存储块之一的示意性电路图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110022072.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top