[发明专利]成像光测量装置

说明书

本发明涉及一种成像光测量装置，该成像光测量装置包括图像传感器(117)、光学光谱仪(120)和数据处理单元(118)，其中，图像传感器(117)和光谱仪(120)被配置成接收由测量对象(110)发出的光，数据处理单元(118)连接至图像传感器(117)和光谱仪(120)，并且处理由图像传感器(117)和光谱仪(120)输出的测量信号。本发明的目的是提供一种光测量装置，该光测量装置允许以简单且成本有效的方式对测量过程进行精确的时间控制。为此目的，本发明建议，图像传感器(117)和光谱仪(120)各自具有触发输入部(122，123)，其中，施加在该触发输入部(122，123)处的触发信号启动测量过程。

技术领域

本发明涉及一种成像光测量装置，该成像光测量装置包括图像传感器和光学光谱仪，并且包括数据处理单元，其中，图像传感器和光谱仪接收由测量对象发出的光，数据处理单元连接至图像传感器和光谱仪，并且处理由图像传感器和光谱仪输出的测量信号。

背景技术

这种类型的装置在现有技术中已知的。例如，EP 3054273 A1因此描述了一种用于在质量保证中测量和检查矩阵显示设备(也称为矩阵显示器，诸如智能手机、平板电脑、便携式电脑、监控器、电视等的彩色矩阵显示器)的比色系统。

已知显示器测试环境的关键部件是呈成像比色计形式的光测量装置，该光测量装置使得有可能精确地测量单个显示器的视觉性能，这对应于人类对明度、色彩和空间关系的感知。强大的成像光测量设备能够例如精确地测量色彩(即，合适的色彩空间中的色彩坐标)、显示器的单个像素的亮度(明度)和显示器的总体均匀性。

在典型的生产过程中，每个显示器的视觉性能通过包括这种类型的成像光测量装置的自动检查系统来测试。这具有若干个优点。显示误差的定量评估是可能的，并且增加的测试速度并且尤其是整体显示质量的同时评估，即均匀性和色彩准确度。

在已知的成像比色系统中，提供数字RGB相机作为图像传感器，该数字RGB接收由显示器的像素发出的光。以这种方式，利用空间分辨率以简单的方式测量色彩分布和亮度分布，即以成像方式。此外，已知的比色系统包括光学光谱仪，其从显示器上的预定区域(“光斑”)接收光而没有空间分辨率，即以非成像方式。分束器定位在测量对象与图像传感器或光谱仪之间，该分束器分离来自测量对象的光以便借助于图像传感器和光谱仪进行检测。已知的比色系统包括数据处理单元，该数据处理单元与图像传感器和光谱仪数据连接，该单元控制测量过程并且处理由图像传感器和光谱仪输出的测量信号。在这种情况下，将来自图像传感器的RGB测量信号转换成合适的比色变量、辐射变量和光度变量(例如，转换成X、Y、Z色彩坐标)，并且基于来自光谱仪的精确测量信号对以成像方式检测到的所获得的变量进行校正，使得评估显示质量所需的比色变量和光度变量的非常快速且成本有效的成像检测是可能的。

在现代自动化检查系统中，单个测量对象在测量装置中的停留时间旨在是最小的，以便使生产量最大化。

基于微型LED阵列的现代矩阵显示器几乎已准备好上市。当测量LED时，会出现LED在操作期间发热的问题。温度变化导致发出光的光谱变化。在这种情况下，目的是在测试包含LED的测量对象时，仅在几毫秒的非常短的时间间隔内开启单个LED中的每个LED。

为了使这成为可能，需要能够精确地控制单独测量的时间顺序。