[发明专利]检测方法以及检测装置在审

专利信息
申请号: 202080012592.2 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN113396330A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 河村达朗;柳川博人;安浦雅人;藤卷真 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N33/553;G01N21/64
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 方法 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种检测方法,包括:

通过使固定于具有磁性的金属颗粒的第1物质以及由荧光体进行了标记的第2物质与标靶物质结合来形成复合体,

通过施加磁场来使所述复合体移动,

对移动中的所述复合体照射具有预定波长的激励光,所述激励光使所述荧光体放射荧光,所述荧光通过由所述金属颗粒产生的局域表面等离激元共振被增强,

历时地拍摄所述被增强了的荧光,取得多个二维图像,

基于所述多个二维图像各自所包含的光点,检测所述标靶物质,

所述金属颗粒具有内核部和外壳部,所述内核部由磁性材料形成,所述外壳部覆盖所述内核部,由产生所述局域表面等离激元共振的非磁性的金属材料形成。

2.根据权利要求1所述的检测方法,

在所述激励光的照射中,通过对形成所述激励光的近场的基板照射所述激励光,对位于所述基板的表面附近的所述复合体照射所述激励光的近场。

3.根据权利要求2所述的检测方法,

在所述磁场的施加中,

通过施加第1磁场,将所述复合体拉近到所述基板的表面,

通过施加第2磁场,使被拉近到所述基板的表面的所述复合体沿着所述基板的表面移动。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的检测方法,

所述磁性材料包含顺磁性体,所述非磁性的金属材料包含反磁性体。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的检测方法,

所述非磁性的金属材料是金、银、铝或者具有金、银以及铝中的任一种作为主成分的合金。

6.一种检测装置,具备:

试料容纳部,其容纳含有复合体的试料,所述复合体通过使固定于具有磁性的金属颗粒的第1物质以及由荧光体进行了标记的第2物质与标靶物质结合而形成;

磁场施加部,其对容纳于所述试料容纳部的所述试料施加磁场来使所述复合体移动;

光源,其对容纳于所述试料容纳部的所述试料照射具有预定波长的激励光,所述激励光使所述荧光体放射荧光,所述荧光通过由所述金属颗粒产生的局域表面等离激元共振被增强,

拍摄部,其历时地拍摄所述被增强了的荧光,取得多个二维图像;以及

检测部,其基于所述多个二维图像各自所包含的光点,检测所述标靶物质,

所述金属颗粒具有内核部和外壳部,所述内核部由磁性材料形成,所述外壳部覆盖所述内核部,由产生所述局域表面等离激元共振的非磁性的金属材料形成。

7.根据权利要求6所述的检测装置,

所述试料容纳部具备能够通过所述激励光的照射形成近场的基板,

所述光源通过对所述基板照射所述激励光,对位于所述基板的表面附近的所述复合体照射所述激励光的近场。

8.根据权利要求7所述的检测装置,

所述磁场施加部具有:

第1磁场施加部,其对所述试料施加第1磁场来将所述复合体拉近到所述基板的表面;和

第2磁场施加部,其对所述试料施加第2磁场来使所述复合体沿着所述基板的表面移动。

9.根据权利要求6~8中任一项所述的检测装置,

所述磁性材料包含顺磁性体,所述非磁性的金属材料包含反磁性体。

10.根据权利要求6~9中任一项所述的检测装置,

所述非磁性的金属材料是金、银、铝、或者具有金、银以及铝中的任一种作为主成分的合金。

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