[发明专利]检测器

说明书

提供一种检测器，即使因电源电压的减少使得逻辑元件的延迟时间由于外部因素而发生变化，也能够检测到保证操作电压之外的电压。检测器包括：多个第一检测电路；第一检测速率计算单元；多个第二检测电路；第二检测速率计算单元；以及比较和确定单元。本发明提供一种检测器，其中：多个第一检测电路中的每个第一检测电路检测输入电压是否是正常操作的保证操作范围之外的值；第一检测速率计算单元计算其数量是所检测的第一检测电路的数量的第一检测速率；多个第二检测电路中的每个第二检测电路检测预定参考电压是否低于阈值电压；第二检测速率计算单元计算其数量是所检测的第二检测电路的数量的第二检测速率；并且当第一检测速率与第二检测速率彼此大致相等时，比较和确定单元确定输入电压的值等于或小于阈值电压的值。

技术领域

本技术涉及检测器，并且更具体地，涉及一种使用数字检测电路的逻辑检测器。

背景技术

在其中安装有中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP)等的半导体设备(集成电路)中，利用所考虑的逻辑电路的操作期间的电源下垂(power-supply droop)确定逻辑电路的保证操作电压。

近年来，为了降低半导体设备(集成电路)中的功耗，需要将半导体设备(集成电路)中的保证操作电压降低至最小。因此，在被供应至逻辑电路的电压在保证操作范围之外的情况下，需要一种检测保证操作范围之外的供应电压的电路。

此处，已知一种被称为电源下垂的现象，其中，被输入至半导体设备(集成电路)的电压暂时发生波动。作为检测电源下垂的方式，已知使用模拟电路执行检测的方式。

然而，在利用模拟电路检测电源下垂的情况下，放大器的响应性较差，并且在一些情况下，不能检测到快速的电源下垂。另一方面，如果放大器的响应速度增加，则功耗(电流消耗)可能增加。

因此，近年来，(例如，非专利文献1)考虑了利用逻辑电路(数字电路)来检测电源下垂的方式。

引用列表

专利文献

非专利文献1：Kamil Gomina,Jean-Baptiste Rigaud,Philippe Gendrier,Philippe Candelier,and Assia Tria,“Power supply glitch attacks:design andevaluation of detection circuit”,“2014IEEE International Symposium onHardware-Oriented Security and Trust(HOST)”,2014,139-140,Figs.6-8

发明内容

发明要解决的问题

非专利文献1公开了一种检测毛刺电压的检测电路。在本说明书中，毛刺电压指由于内部电路的操作或外部因素而引起电源电压的未预期或不希望的波动。检测电路使用由于电源电压的减少而导致逻辑元件中的延迟时间，以有意地使得违反触发器设置或违反保持设置而检测毛刺电压。

然而，逻辑元件中的延迟时间取决于过程和温度，并且各个半导体设备(集成电路)内部存在变化。因此，难以控制由于电源电压的减少而导致逻辑元件中的延迟时间。因此，检测电路的检测电压中发生变化。

鉴于该情形而提出本技术，并且其主要目的是提供这样一种检测器，即，即使因电源电压的减少而导致逻辑元件中的延迟时间由于外部因素而变化，也能够准确地检测保证操作电压范围之外的输入电压。

问题的解决方案

本发明人为实现上述目的而进行了深入研究。因此，即使因电源电压的减少导致逻辑元件中的延迟时间由于外部因素发生变化，本发明人也成功地对保证操作电压范围之外的输入电压进行了准确地检测。由此，本发明人完成了本技术。

具体地，本技术提供了一种检测器，包括：