[实用新型]一种高精度粒子数差制备平台有效
| 申请号: | 202023065434.X | 申请日: | 2020-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN215010213U | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
| 发明(设计)人: | 徐永飞 | 申请(专利权)人: | 江汉大学 |
| 主分类号: | H03L7/26 | 分类号: | H03L7/26 |
| 代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 刘杰 |
| 地址: | 430056 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高精度 粒子 制备 平台 | ||
1.一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,包括
光源模块,用于使原子受激辐射产生抽运光;
选态制备模块:用于采集所述原子的同位素原子,过滤聚焦后所述抽运光中的两个超精细结构成分;
磁场模块:提供外加磁场,用于将原子基态超精细结构发生分裂形成量子化轴;
辐射场模块:用于原子基态超精细结构发生共振跃迁;
粒子数差制备模块:用于将所述选态制备模块过滤后的所述抽运光照射下,将处于基态F=1能态的原子抽运到基态F=2能态;
检测模块:通过量子纠偏,使得输出信号频率锁定于粒子数差制备模块中原子谱线的中心频率;
所述选态制备模块和粒子数差制备模块依次设于所述光源模块产生的所述抽运光的光路上。
2.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,还包括:
场强计,用于测量磁场场强;
中央处理器,获取场强计的测量数据。
3.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述检测模块包括探测系统、慢扫频源、低频率信号发生器和补偿检测模块;
所述探测系统用于产生原子探测信号作用于粒子数差制备模块;
所述慢扫频源用以产生变化的频率信号施加给探测系统,使原子探测信号发生变化;
所述低频率信号发生器,用于产生两路同频信号,其中第一路对探测信号进行调制,第二路作为补偿检测模块的同步参考信号;
所述补偿检测模块用于将得到的量子纠偏信号作用于慢扫频源,使所述慢扫频源输出频率发生变化,从而使探测系统输出的探测信号频率锁定于粒子数差制备中的原子谱线中心频率。
4.根据权利要求3所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述补偿检测模块包括选放模块和相检模块,
所述选放模块对鉴频信号进行选频放大,获得与参考信号同频的检测信号,输入至相检模块;
所述相检模块对选放模块输入的信号进行同步鉴相。
5.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述光源模块为放置有玻璃泡的高频振荡器的线圈,所述玻璃泡中充有所述原子。
6.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述磁场模块,采用双层线圈绕制的方式。
7.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,
所述粒子数差制备模块包括:微波腔和放置在微波腔内的吸收泡。
8.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述粒子数差制备模块的外壳设置了磁屏。
9.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述选态制备模块包括从充有所述原子的同位素的滤光泡。
10.根据权利要求1所述的一种高精度粒子数差制备平台,其特征在于,所述原子为铷原子。
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