[实用新型]一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置有效

专利信息
申请号: 202022928284.4 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN213903367U 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 刘鑫 申请(专利权)人: 天津市博智伟业科技股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2204
代理公司: 天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙) 12217 代理人: 邓琳
地址: 300384 天津市滨海新区华苑产业*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 荧光 光谱仪 氦气 样品 装置
【说明书】:

实用新型涉及分析仪技术领域,具体为一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置,包括面板,所述面板的下表面固设有密封样品室,所述密封样品室上靠近面板的一端开设有样品盒插入口,所述面板的上方设有与样品盒插入口相插接的样品盒,所述密封样品室的左右两侧呈对称设置有进气阀与出气阀,所述密封样品室上开设有与进气阀与出气阀相对接的进气孔与出气孔,所述进气孔位于密封样品室一侧的上沿处,所述出气孔位于密封样品室的底部且在远离进气孔一侧。通过本实用新型达到让密封样品室内充满氦气,在此环境下测量,提高了X荧光光谱仪的测量灵敏度,从而提高了其测量样品的准确度。

技术领域

本实用新型涉及分析仪技术领域,具体为一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置。

背景技术

近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用的最多也最广泛,X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以测定元素含量,现有的X荧光光谱分析的样品室不是密封的,X荧光光谱仪在大气条件下通过样品室进行测量,由于元素周期表小于20号的轻元素的荧光光子能量十分微弱,在空气中的损耗很大,所以在大气条件下测定轻元素时,灵敏度较低,存在测定困难的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置,是一种新型的密封结构,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置,包括面板,所述面板的下表面固设有密封样品室,所述密封样品室上靠近面板的一端开设有样品盒插入口,所述面板的上方设有与样品盒插入口相插接的样品盒,所述密封样品室的左右两侧呈对称设置有进气阀与出气阀,所述密封样品室上开设有与进气阀与出气阀相对接的进气孔与出气孔,所述进气孔位于密封样品室一侧的上沿处,所述出气孔位于密封样品室的底部且在远离进气孔一侧,所述进气孔通过进气管与进气阀相连接,所述出气孔通过出气管与出气阀相连接。

可选的,所述密封样品室上靠近出气孔的一端开设有用于探测器插入的探测器插入口。

可选的,所述密封样品室的一侧一体成型有斜角管,所述斜角管上远离密封样品室的一端开设有用于准直器插入的准直器插入口。

可选的,所述进气阀与出气阀均为电磁阀,所述进气管与出气管均为铜制连接管。

与现有技术相比,本实用新型提供了一种X荧光光谱仪的充氦气样品室装置,具备以下有益效果:本实用新型设有密封样品室,从进气口冲入氦气,从出气口排出空气,从而达到让密封样品室内充满氦气,在此环境下测量,提高了X荧光光谱仪的测量灵敏度,从而提高了其测量样品的准确度。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图;

图2为本实用新型密封样品室的结构示意图;

图3为图2的纵向剖视图。

图中:1、面板;2、密封样品室;3、样品盒插入口;4、样品盒;5、进气阀;6、出气阀;7、进气孔;8、出气孔;9、进气管;10、出气管;11、探测器插入口;12、斜角管;13、准直器插入口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

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