[实用新型]一种IC芯片测试治具

说明书

本实用新型涉及IC芯片技术领域，且公开了一种IC芯片测试治具，包括底板，所述底板的顶端固定安装有作用箱，所述作用箱的上下两侧壁转动连接有第一转杆，所述作用箱的上壁转动连接有第二转杆，所述第一转杆位于第二转杆内部，本新型方案能够通过设置第一转杆、第二转杆、第一锥形齿轮、第二锥形齿轮、作用板、第一电机、第二电机、第三锥形齿轮、第四锥形齿轮、第五锥形齿轮、作用匣、第三转杆、第六锥形齿轮、连接杆与支撑板等装置可以调节放置台的角度，使放置在放置台表面的IC芯片处于平行于水平线，通过设置调节装置，便于调节芯片检测治具的位置，防止放置台调节过后与芯片检测治具的位置产生差异，避免造成检测不准确。

技术领域

本实用新型属于IC芯片技术领域，具体为一种IC芯片测试治具。

背景技术

在对芯片样品进行失效分析时，由于芯片样品放置时与水平面存在一个夹角，导致在采集样品图片时会产生灰阶度不均匀以及部分图像模糊不清的情况，传统的方法是在芯片样品下方垫入一定量的胶质，以修正样品的内部夹角。

但在实际的操作过程中，垫入的胶质是不能直接定量的，由于精度低，往往需要重复操作加入胶质，不仅大量浪费了操作人员的时间，且在重复操作的过程中会产生额外的损坏以及污染样品的风险，直接影响到样品分析的精度以及效率。

实用新型内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本实用新型提供一种IC芯片测试治具，有效的解决了垫入的胶质是不能直接定量的，由于精度低，往往需要重复操作加入胶质，不仅大量浪费了操作人员的时间，且在重复操作的过程中会产生额外的损坏以及污染样品的风险，直接影响到样品分析的精度以及效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC芯片测试治具,包括底板，所述底板的顶端固定安装有作用箱，所述作用箱的上下两侧壁转动连接有第一转杆，所述作用箱的上壁转动连接有第二转杆，所述第一转杆位于第二转杆内部，所述第一转杆外壁的下部套接有第一锥形齿轮，所述第二转杆外壁的下部套接有第二锥形齿轮，所述作用箱内腔的右侧壁固定安装有第一电机，所述作用箱内腔的左侧壁固定安装有第二电机，所述第一电机的传动轴固定安装有第三锥形齿轮，所述第二电机的传动轴固定安装有第四锥形齿轮，所述第三锥形齿轮与第一锥形齿轮相啮合，所述第二锥形齿轮与第四锥形齿轮相啮合，所述第一转杆的顶端贯穿作用箱的顶壁并固定连接有第五锥形齿轮，所述第二转杆的顶端贯穿作用箱的顶壁并固定连接有作用匣，所述第五锥形齿轮位于作用匣内部，所述作用匣的左右侧壁转动连接有第三转杆，所述第三转杆外壁的左侧套接有第六锥形齿轮，所述第六锥形齿轮与作用匣相啮合，所述第三转杆外壁的右侧套接有连接杆，所述连接杆的顶端固定连接有放置台，所述底板顶端的左侧固定安装有支撑板，所述支撑板右侧壁的上部固定安装有调节装置，所述调节装置的底端固定安装有芯片检测治具。

优选的，所述调节装置包括两组第一连接板，两组所述第一连接板分别位于支撑板左侧壁上部的前后两侧，两组所述第一连接板的相视侧转动连接有第一螺杆，后侧所述第一连接板的后端通过安装架固定安装有第三电机，所述第三电机的传动端与第一螺杆的后端相连接，所述第一螺杆的外壁螺接有第一螺块，所述第一螺块底端的左右两侧固定安装有第二连接板，两组所述第二连接板的相视侧转动连接有第二螺杆，所述第一螺块的底端固定安装有第四电机，所述第四电机的传动端与第二螺杆的右端相连接，所述第二螺杆的外壁螺接有第二螺块，所述第二螺块的底端与芯片检测治具的顶端相连接。

优选的，两组所述第一连接板的相视侧固定连接有第一导杆，所述第一导杆贯穿第一螺块的右侧。

优选的，两组所述第二螺杆的相视侧固定连接有第二导杆，所述第二导杆贯穿第二螺块的上部。

优选的，所述作用箱的内腔固定安装有作用板，所述第二转杆的下部套接有轴承，所述轴承的外壁与作用板相连接。

优选的，所述放置台的顶端开设有与IC芯片相匹配的限位槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：