[实用新型]一种IC芯片测试治具

权利要求书

1.一种IC芯片测试治具，其特征在于：包括底板(100)，所述底板(100)的顶端固定安装有作用箱(110)，所述作用箱(110)的上下两侧壁转动连接有第一转杆(120)，所述作用箱(110)的上壁转动连接有第二转杆(130)，所述第一转杆(120)位于第二转杆(130)内部，所述第一转杆(120)外壁的下部套接有第一锥形齿轮(140)，所述第二转杆(130)外壁的下部套接有第二锥形齿轮(150)，所述作用箱(110)内腔的右侧壁固定安装有第一电机(170)，所述作用箱(110)内腔的左侧壁固定安装有第二电机(180)，所述第一电机(170)的传动轴固定安装有第三锥形齿轮(190)，所述第二电机(180)的传动轴固定安装有第四锥形齿轮(200)，所述第三锥形齿轮(190)与第一锥形齿轮(140)相啮合，所述第二锥形齿轮(150)与第四锥形齿轮(200)相啮合，所述第一转杆(120)的顶端贯穿作用箱(110)的顶壁并固定连接有第五锥形齿轮(210)，所述第二转杆(130)的顶端贯穿作用箱(110)的顶壁并固定连接有作用匣(220)，所述第五锥形齿轮(210)位于作用匣(220)内部，所述作用匣(220)的左右侧壁转动连接有第三转杆(230)，所述第三转杆(230)外壁的左侧套接有第六锥形齿轮(240)，所述第六锥形齿轮(240)与作用匣(220)相啮合，所述第三转杆(230)外壁的右侧套接有连接杆(250)，所述连接杆(250)的顶端固定连接有放置台(300)，所述底板(100)顶端的左侧固定安装有支撑板(260)，所述支撑板(260)右侧壁的上部固定安装有调节装置(270)，所述调节装置(270)的底端固定安装有芯片检测治具(279)。

2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述调节装置(270)包括两组第一连接板(271)，两组所述第一连接板(271)分别位于支撑板(260)左侧壁上部的前后两侧，两组所述第一连接板(271)的相视侧转动连接有第一螺杆(272)，后侧所述第一连接板(271)的后端通过安装架固定安装有第三电机(273)，所述第三电机(273)的传动端与第一螺杆(272)的后端相连接，所述第一螺杆(272)的外壁螺接有第一螺块(274)，所述第一螺块(274)底端的左右两侧固定安装有第二连接板(275)，两组所述第二连接板(275)的相视侧转动连接有第二螺杆(276)，所述第一螺块(274)的底端固定安装有第四电机(277)，所述第四电机(277)的传动端与第二螺杆(276)的右端相连接，所述第二螺杆(276)的外壁螺接有第二螺块(278)，所述第二螺块(278)的底端与芯片检测治具(279)的顶端相连接。

3.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：两组所述第一连接板(271)的相视侧固定连接有第一导杆(280)，所述第一导杆(280)贯穿第一螺块(274)的右侧。

4.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：两组所述第二螺杆(276)的相视侧固定连接有第二导杆(281)，所述第二导杆(281)贯穿第二螺块(278)的上部。

5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述作用箱(110)的内腔固定安装有作用板(160)，所述第二转杆(130)的下部套接有轴承，所述轴承的外壁与作用板(160)相连接。

6.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述放置台(300)的顶端开设有与IC芯片相匹配的限位槽。