[实用新型]金属表面检查系统及其照明装置有效
申请号: | 202021504605.1 | 申请日: | 2020-07-27 |
公开(公告)号: | CN213364606U | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 萧贤德;王宣復 | 申请(专利权)人: | 华洋精机股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 张燕华;王馨仪 |
地址: | 中国台湾台南市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属表面 检查 系统 及其 照明 装置 | ||
本实用新型公开一种金属表面检查系统及其照明装置,所述金属表面检查系统包括一照明装置及一取像装置,该照明装置产生一偏振光来照射一金属表面,该偏振光是一面光源;该取像装置接收该偏振光在该金属表面反射的一反射光,该取像装置接收该反射光的偏振方向与该反射光的偏振方向是正交关系,该取像装置将该反射光转换为一检查图像。
技术领域
本实用新型涉及光学检查系统,特别是指一种金属表面检查系统及其照明装置。
背景技术
金属表面存在金属本身的纹路,目前通过光学检查系统拍摄金属表面来进行检查的过程需要经过复杂的图像处理来消除金属纹,之后才能知道金属表面是否存在缺陷,例如灰尘、脏污、破损或凹陷等,但复杂的图像处理的过程需要较长的演算时间,而不利于快速的检查。虽然可以通过高速运算设备来缩短演算时间,但高速运算设备的建置成本昂贵。
此外,目前为了提高金属表面的照度通常会选择高亮度或高功率的发光元件,发光元件产生的光是点光源,点光源直接照射金属表面,金属表面的被照射区域的亮度是不均匀的,因此,拍摄被照射区域的影像不仅包含金属表面纹路,还有光造成的影像,这将不利于消除金属纹路。
实用新型内容
有鉴于上述缺失,本实用新型的金属表面检查系统及其照明装置是通过照明设备产生的面光源的偏振光来照射金属表面,取像装置在拍摄金属表面的检查图案,通过特定方向的偏振光来提供照明以简化金属表面的金属纹的消除流程。
为了达成上述目的,本实用新型的金属表面检查系统包括照明装置及取像装置。照明装置用以产生偏振光来照射金属表面,偏振光是面光源。取像装置接收偏振光在金属表面反射的反射光。取像装置接收反射光的偏振方向与反射光的偏振方向是正交关系。取像装置将反射光转换为检查图像。
其中,该照明装置包括一发光模块、一扩散板及一光源偏振片,该发光模块产生一光,该扩散板及该光源偏振片连接该发光模块,该光依序通过该扩散板及该光源偏振片,以形成该偏振光。
其中,该取像装置包括一相机本体及一镜头,该镜头连接该相机本体,且包括一透镜及一镜头偏振片,该反射光依序通过该镜头偏振片及该透镜,而被该相机本体接收而转换为该检查图像。
为了达成上述目的,本实用新型的金属表面检查系统的照明装置包括发光模块、扩散板及光源偏振片。发光模块用以产生光。扩散板连接发光模块,用以以供光通过而形成面光源。光源偏振片连接发光模块,且供面光源通过而形成偏振光,用以对金属表面提供照明。
如此,本实用新型的金属表面检查系统的照明装置可以通过扩散板及光源偏振片提供均匀面光源的偏帐光,偏振光的偏振方向与金属表面的反射光的偏振方向相同,以便于消除金属纹。
有关本实用新型所提供的金属表面检查系统的结构、组成、特点、组装或使用方式,将于后续的实施方式详细说明中予以描述。然而,在本实用新型领域中具有通常知识者应能了解,该等详细说明以及实施本实用新型所列举的特定实施例,仅用于说明本实用新型,并非用以限制本实用新型的专利范围。
附图说明
图1是本实用新型的金属表面检查系统检查金属表面的示意图。
图2是图1中照明装置的示意图。
图3是图2中照明装置省略光源偏振片,取像装置拍摄金属表面的检查影像。
图4是图1的金属表面检察系统的取像装置拍摄金属表面的检查影像。
其中,附图标记:
100:金属表面检查系统
11:照明装置
111:发光模块
113:扩散板
115:光源偏振片
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