[实用新型]一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构有效

专利信息
申请号: 202021071118.0 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN212451222U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 周孔礼 申请(专利权)人: 山西华微紫外半导体科技有限公司;周孔礼
主分类号: C04B37/02 分类号: C04B37/02;C04B41/88
代理公司: 深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604 代理人: 胡国英
地址: 046021 山西省长治市高新区漳泽工业园*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 陶瓷 金属 焊接 结构
【权利要求书】:

1.一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:包括氮化硅陶瓷基板(1),所述氮化硅陶瓷基板(1)上设置有金属线路涂层(2),沿着所述金属线路涂层(2)设置有用于焊接的合金金属层(3),所述合金金属层(3)的形状与所述金属线路涂层(2)的形状适配,所述合金金属层(3)上设置有围坝(4),所述围坝(4)的下端面形状与所述合金金属层(3)的形状适配。

2.如权利要求1所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述金属线路涂层(2)包括焊接部(2a)和连接部(2b)。

3.如权利要求2所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述焊接部(2a)呈圆环状,且所述连接部(2b)呈“T”字形状,所述连接部(2b)的一端连接到所述焊接部(2a)的外周边沿。

4.如权利要求3所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述合金金属层(3)呈圆环状,且所述合金金属层(3)的内部边沿对应到所述焊接部(2a)的中线位置。

5.如权利要求4所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述围坝(4)呈圆环状,且所述围坝(4)的下端厚度小于所述合金金属层(3)的宽度。

6.如权利要求5所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述围坝(4)采用金属或者氮化硅陶瓷制成。

7.如权利要求6所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述氮化硅陶瓷基板(1)包括第一表面(1a)和与该第一表面(1a)相对的第二表面(1b),所述金属线路涂层(2)设置在所述第一表面(1a),所述第二表面(1b)设置有延伸线路涂层(5),且该延伸线路涂层(5)与所述金属线路涂层(2)接通。

8.如权利要求7所述的一种氮化硅陶瓷上金属围坝的共晶焊接结构,其特征在于:所述氮化硅陶瓷基板(1)上设置有多个所述焊接部(2a),每个所述焊接部(2a)对应一个所述合金金属层(3)和一个围坝(4),且每个所述焊接部(2a)对应的所述连接部(2b)接通为一体。

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