[实用新型]一种芯片逻辑电平检测装置

说明书

本实用新型涉及一种芯片逻辑电平检测装置，属于芯片检测技术领域。本实用新型包括16脚芯片IC座、电压跟随器电路、高低电平检测电路、窗口比较器电路、编码器模块、管脚切换模块、万用表；所述16脚芯片IC座与电压跟随器电路相连，电压跟随器电路分别与高低电平检测电路、窗口比较器电路、管脚切换模块相连，窗口比较器电路通过编码器模块与管脚切换模块连接，管脚切换模块与万用表连接。本实用新型提供一种芯片逻辑电平检测装置，通过在故障芯片的IC座安装检测电路检测芯片各管脚的电平，并通过发光二极管显示检测结果，根据检测结果将故障电压显示在万用表上。本实用新型结构简单，容易操作，检测效果好，结果显示浅显易懂。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片逻辑电平检测装置，属于芯片检测技术领域。

背景技术

目前，人们在使用14脚或16脚芯片遇到故障时，一般是借用万用表测量其每个管脚的电压是否正常，这种检测方法费时费力，由于管脚数量较多，检测者常常会混淆多个管脚的逻辑电平状态，且在检测过程中由于误将万用表表笔或挡位接错而使芯片烧毁的事故时常发生，存在一定的安全隐患。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：本实用新型提供一种芯片逻辑电平检测装置，用于解决现有的操作设备费时费力、不好操作、存在安全隐患的问题，本实用新型通过在故障芯片的IC座上安装检测电路来判断芯片各管脚的电平，并通过发光二极管显示检测结果，且根据检测结果将故障电压显示在万用表上。

本实用新型技术方案是：一种芯片逻辑电平检测装置，包括16脚芯片IC座1、电压跟随器电路2、高低电平检测电路3、窗口比较器电路4、编码器模块5、管脚切换模块6、万用表7；所述16脚芯片IC座1与电压跟随器电路2相连，电压跟随器电路2分别与高低电平检测电路3、窗口比较器电路4、管脚切换模块6相连，窗口比较器电路4通过编码器模块5与管脚切换模块6连接，管脚切换模块6与万用表7连接。

进一步地，所述电压跟随器电路2有若干个，每个电压跟随器电路2均包括电阻R1、集成运算放大器A1；电阻R1的一端与集成运算放大器A1的同相输入端连接,集成运算放大器A1的反相输入端与集成运算放大器A1的输出端连接；所述16脚芯片IC座1的每一管脚均分别与一个电压跟随器电路2的输入端连接。

进一步地，所述高低电平检测电路3有若干个，每个高低电平检测电路3均包括电阻R2、集成运算放大器A2、集成运算放大器A3、MOS管B1、MOS管B2、发光二极管LED1、LED2；所述集成运算放大器A2的同相输入端、集成运算放大器A3的反相输入端均与电压跟随器电路2的输出端连接；集成运算放大器A2的反相输入端与正2V电源连接，输出端与MOS管B1的栅极连接；MOS管B1的源极与电源正5V连接，MOS管B1的漏极与发光二极管LED1的阳极连接；集成运算放大器A3的同相输入端与正0.8V电源连接，输出端与MOS管B2的栅极连接；MOS管B2的源极与电源正5V连接，MOS管B2的漏极与发光二极管LED2的阳极连接；发光二极管LED1、发光二极管LED2的阴极连接在一起后通过电阻R2接地。

进一步地，所述窗口比较器电路4有若干个，每个窗口比较器电路4均包括集成运算放大器A4、集成运算放大器A5、二极管C1、二极管C2；所述电压跟随器电路2的集成运算放大器A1的输出端分别与集成运算放大器A4的反相输入端、集成运算放大器A5的同相输入端连接，集成运算放大器A4的同相输入端与正2V电源连接，集成运算放大器A5的反相输入端与正0.8V电源连接，集成运算放大器A4、A5的输出端分别与二极管C1、C2的阳极连接，二极管C1、C2的阴极连接在一起后作为窗口比较器电路4的输出端。