[发明专利]一种太赫兹成像方法及太赫兹成像雷达

说明书

本发明涉及微波成像技术领域，尤其是一种太赫兹成像方法及太赫兹成像雷达。雷达它包括依次设置的微波辐射信号源、聚焦反射面、第二抛物面、微波辐射成像处理模组和第一抛物面，微波辐射成像处理模组电连接微波图像显示设备，微波辐射成像处理模组与第二抛物面之间的距离能够调节。本发明巧妙应用微波辐射能量转换技术，将原本接收和探测都比较困难的微波信号，转换成另一种传统成熟的探测器可以探测的信号，采用传统的探测技术实现对微波太赫兹图像信息的穿透探测。不但彻底解决了传统微波接收处理的困难，而且对成像速度，成像质量，小型化，低成本等需求都得到了完美的解决，具有很强的实用价值和市场推广价值。

技术领域

本实用发明涉及微波成像技术领域，尤其是一种太赫兹成像雷达。

背景技术

随着人类社会的高速发展和技术进步，人们的生活也发生了翻天覆地的变化。各种探测、成像设备的广泛应用，使人类的感知能力不断增强。白光成像，红外夜视成像，微波成像等的应用和普及，让人类的眼睛能看得更远，看到原本不可见的景象，夜间已经变成了如日间那样的可观察。许许多多的未知世界得以被观察和了解。虽然以上得成就已经让人类视觉有了很大的进步，但人类尚不满足于现状，随着人类对未知的追求，更多未知世界的认识需求被提上日程。成像感知设备，虽对人类的感知距离和亮度环境起到很强的辅助作用，但对于隐蔽的，遮挡物后面的情况的观察尚存在很大的困难。如建筑物遮挡，不能看见建筑物后面的场景；地面泥土的遮挡，不能看到地底下埋藏的东西；战场上重型装备引起的扬尘，让这些军事装备被隐藏等。上列的这些情况对于军事，搜救，地下管网建设，矿产探测都带来很大的困难。

在微波穿透成像应用邻域中，利用微波、太赫兹电磁波的穿透能力，通过目标物体对微波太赫兹辐射不同的吸收和反射率不同而呈现被探测目标图像，传统的微波太赫兹成像，基本都是利用微波接收天线，对目标进行多普勒探测成像。由于多普勒成像需要高速微波或者高速相对运动，所以这类探测大多应用于卫星对地探测。由于传统的微波天线体积大，制造成本高，相互影响大，不利于大规模集成，所以，微波太赫兹成像的应用受到极大的限制。

实用发明内容

针对上述现有技术存在的不足，本实用发明的目的在于提供一种太赫兹成像雷达。

为了实现上述目的，本实用发明采用如下技术方案：

一种太赫兹成像方法，其特征在于：它包括步骤

S1、微波辐射信号源2产生的微波辐射电磁波经聚焦反射面1照射到被探测的目标物体；

S2、微波辐射电磁波照射到被探测目标物体之后，经目标物体对微波辐射电磁波反射后，其中一部分的物体反射微波信号到达第一抛物面8；

S3、再经反射聚焦后到达微波接收聚焦第二抛物面5再次聚焦，成为一幅携带微波能量强度的微波图像；

S4、微波图像经微波辐射成像处理模组6处理之后转换成为电子图像信号；

S5、电子图像信号经微波图像输出信号线传输给微波图像显示设备9；

S6、调整微波辐射成像处理模组6与第二抛物面5距离，重复步骤S1-S5，用于观察到目标不同深度的微波图像。

本发明采用的第二个技术方案如下：

一种太赫兹成像雷达，它包括依次设置的微波辐射信号源、聚焦反射面、第二抛物面、微波辐射成像处理模组和第一抛物面，所述微波辐射成像处理模组电连接微波图像显示设备，所述微波辐射成像处理模组与第二抛物面之间的距离能够调节用于观察到目标不同深度的微波图像，所述微波辐射信号源产生的微波辐射电磁波经聚焦反射面照射到目标物体上再反射到第一抛物面，所述第一抛物面聚焦反射目标物体的物体反射微波信号到第二抛物面，所述第二抛物面将物体反射微波信号聚焦到微波辐射成像处理模组上，所述微波辐射成像处理模组用于显示和存储的电子图像信号。