[发明专利]腔体的净化方法、净化设备和电子束曝光装置在审

专利信息
申请号: 202011555622.2 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN114675496A 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 张宾 申请(专利权)人: 无锡迪思微电子有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 霍文娟
地址: 214028 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 净化 方法 设备 电子束 曝光 装置
【权利要求书】:

1.一种腔体的净化方法,其特征在于,包括:

将颗粒吸附结构送入真空腔体内;

向所述颗粒吸附结构发射预定电荷,使得所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷,所述预定电荷为正电荷和/或负电荷;

在所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷预定时间段之后,将所述颗粒吸附结构送出所述真空腔体。

2.根据权利要求1所述的净化方法,其特征在于,所述颗粒吸附结构包括颗粒吸附层。

3.根据权利要求2所述的净化方法,其特征在于,所述颗粒吸附结构还包括载体,所述颗粒吸附层位于所述载体的表面上。

4.根据权利要求3所述的净化方法,其特征在于,所述载体包括玻璃,所述颗粒吸附层包括金属层。

5.根据权利要求4所述的净化方法,其特征在于,所述金属层包括多个间隔设置的金属部。

6.根据权利要求4或5所述的净化方法,其特征在于,所述金属层的材料包括银、铜与铬中的至少一种。

7.根据权利要求1所述的净化方法,其特征在于,所述真空腔体为电子束曝光机台的真空腔体,向所述颗粒吸附结构发射所述预定电荷,使得所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷,包括:

控制所述电子束曝光机台的电子发射源发射电子束所述预定时间段,使得所述颗粒吸附结构带上负电荷。

8.根据权利要求1所述的净化方法,其特征在于,将所述颗粒吸附结构送入真空腔体内,包括:

将所述颗粒吸附结构送入真空腔体内且放置在工作台上。

9.根据权利要求1所述的净化方法,其特征在于,在所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷预定时间段之后,在将所述颗粒吸附结构送出所述真空腔体之前,所述净化方法包括:

控制工作台在所述真空腔体内移动。

10.一种腔体的净化设备,其特征在于,包括:

第一传输单元,用于将颗粒吸附结构送入真空腔体内;

电荷发射设备,用于向所述颗粒吸附结构发射预定电荷,使得所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷,所述预定电荷为正电荷和/或负电荷;

第二传输单元,用于在所述颗粒吸附结构带上所述预定电荷预定时间段之后,将所述颗粒吸附结构送出所述真空腔体。

11.一种电子束曝光装置,包括电子束曝光机台,其特征在于,所述电子束曝光装置还包括:

颗粒吸附结构,用于吸附预定电荷;

腔体的净化设备,用于执行权利要求1至9任一项所述的净化方法。

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