[发明专利]一种海底界面一维粗糙度谱计算方法有效
申请号: | 202011537690.6 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112577467B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 于盛齐;刘保华;于凯本;杨志国;宗乐 | 申请(专利权)人: | 国家深海基地管理中心 |
主分类号: | G01C7/02 | 分类号: | G01C7/02;G01C13/00;G06F17/18 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 梁正贤 |
地址: | 266237 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 海底 界面 粗糙 计算方法 | ||
1.一种海底界面一维粗糙度谱计算方法,其特征在于所述方法包括以下五个步骤:
(1)将测量的海底界面一维粗糙度减去其平均值,得到相对于平均界面的海底界面起伏,保证计算得到的粗糙度谱无对应于空间频率为零的“直流”分量
h1(x)=h(x)-hm(x) (1)
式中,x为等间隔的水平距离,h(x)表示测量的海底界面一维粗糙度,hm(x)表示测量的海底界面一维粗糙度的平均值,h1(x)表示去均值后的海底界面一维粗糙度;
(2)对h1(x)进行预白化处理,得到h2(x),减小海底界面一维粗糙度的空间相关性;
(3)对预白化处理后的海底界面一维粗糙度h2(x)加能量归一化的Hanning窗处理,得到h3(x),减少谱泄漏
式中,W(n)表示Hanning窗函数,N为测量的海底界面一维粗糙度对应的水平距离点数,h2(x)为预白化处理后的h1(x);
(4)采用周期图法估计功率谱,得到海底界面一维粗糙度谱
式中,S(f)表示海底界面一维粗糙度谱,Δx表示水平距离间隔,H(f)为h3(x)的傅里叶变换,f表示空间频率,N为测量的海底界面一维粗糙度对应的水平距离点数;
(5)采用幂率谱对计算得到的海底界面一维粗糙度谱S(f)进行拟合,计算海底界面一维粗糙度谱S(f)的谱指数和谱强度;在对数坐标系下,通过线性拟合得到一条直线,斜率对应于谱指数γ1,截距对应于谱强度w1
γ1=-k/10 (4)
w1=10A/10 (5)
式中,k表示拟合直线的斜率,A表示拟合直线的截距。
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