[发明专利]硫化检测电阻器有效
| 申请号: | 202011534878.5 | 申请日: | 2020-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN113035476B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
| 发明(设计)人: | 木村太郎 | 申请(专利权)人: | KOA株式会社 |
| 主分类号: | H01C7/18 | 分类号: | H01C7/18;G01N17/00 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 袁波;刘继富 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硫化 检测 电阻器 | ||
本发明提供一种能够准确且容易地检测硫化的程度的硫化检测电阻器。硫化检测电阻器(100)具有:长方体形状的绝缘基板(1),一对表面电极(2),其形成在绝缘基板(1)的表面的相向的两端部,多个硫化检测导体(3),其并排配置在该一对表面电极(2)之间,多个电阻体(4),其连接在各硫化检测导体(3)的两端部与一对表面电极(2)之间,以及硫化气体非渗透性保护膜(6),其覆盖各电阻体(4)的整体和各硫化检测导体(3)的一部分,各硫化检测导体(3)具有从保护膜(6)的窗孔(6a)露出的硫化检测部(3a),通过用由丙烯系树脂、硅树脂等制成的不同种的硫化速度调整层(7)覆盖这些硫化检测部(3a),从而设定成根据各硫化检测部(3a)所累积的硫化量而断线的时刻各不相同。
技术领域
本发明涉及用于检测腐蚀环境所累积的硫化量的硫化检测电阻器。
背景技术
作为片式电阻器等的电子部件的内部电极一般使用电阻率低的Ag(银)系的电极材料,但是由于银暴露在硫化气体从而成为硫化银,且硫化银是绝缘体,从而会导致发生电子部件断线的故障。因此近年来,采取在Ag中添加Pd(钯)、Au(金)以形成难以硫化的电极,或将电极做成硫化气体难以到达的构造等的硫化对策。
然而,即使对电子部件采取了这样的硫化对策,在该电子部件在硫化气体中长时间暴露的情况下,或暴露在高浓度的硫化气体的情况下,由于难以完全防止断线,所以需要提前检测断线从而防止在不能预期的时刻发生故障。
因此,迄今为止,提出了如专利文献1所述那样的硫化检测传感器,其检测电子部件所累积的硫化的程度,能在电子部件出现硫化断线等故障之前检测危险性。
专利文献1中所记载的硫化检测传感器构成为:在绝缘基板上形成以Ag为主体的硫化检测体,以覆盖该硫化检测体的方式形成透明且具有硫化气体渗透性的保护膜,并在绝缘基板的两侧端部形成与硫化检测体连接的端面电极。将如此构成的硫化检测传感器与其他的电子部件一起安装在印制电路板上之后,当在含有硫化气体的环境中使用该印制电路板时,随着时间的经过在其他的电子部件被硫化的同时,硫化气体透过硫化检测传感器的保护膜而与硫化检测体接触,因此硫化检测体的颜色对应硫化气体的浓度和经过时间而变化。由此,通过透过保护膜目测硫化检测体的颜色变化,或者检测向硫化检测传感器的上表面照射光后自硫化检测体反射的光,或者检测硫化检测体的电阻值变化,从而检测硫化的程度。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2009-250611号公报。
发明要解决的问题
但是,由硫化气体所引起的硫化检测体的颜色变化较为微妙,难以通过操作人员的目测准确地检测硫化的程度,并且即使基于由硫化检测体反射的光来检测硫化的程度,也另外需要用于检测的大规模的设备。此外,由于硫化检测体是以电阻率低的Ag为主体的导体,所以随着所累积的硫化量的硫化检测体电阻值的变化是微量的,进而由于Ag的温度特性(TCR)非常差,由温度引起的电阻值变化大,所以也难以基于硫化检测体的电阻值变化来准确地检测硫化的程度。
发明内容
本发明鉴于这样的现有技术的实际情况而完成,其目的是提供一种能够准确且容易地检测硫化的程度的硫化检测电阻器。
用于解决问题的方案
为达成上述目的,本发明的硫化检测电阻器,其特征在于,具有:长方体形状的绝缘基板,一对表面电极,其形成在所述绝缘基板的主面的相向的两端部,多个硫化检测导体,其并排配置在所述一对表面电极之间,多个电阻体,其连接在所述一对表面电极中的至少一个与所述多个硫化检测导体之间,以及硫化气体非渗透性保护膜,其覆盖所述多个电阻体的整体和所述多个硫化检测导体的一部分,所述多个硫化检测导体具有从所述保护膜露出的硫化检测部,通过用由硫化速度调整层选择性地覆盖这些硫化检测部,从而设定为:根据所述多个硫化检测部所累积的硫化量而断线的时刻各不相同。
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