[发明专利]硫化检测电阻器有效
| 申请号: | 202011534878.5 | 申请日: | 2020-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN113035476B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
| 发明(设计)人: | 木村太郎 | 申请(专利权)人: | KOA株式会社 |
| 主分类号: | H01C7/18 | 分类号: | H01C7/18;G01N17/00 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 袁波;刘继富 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硫化 检测 电阻器 | ||
1.一种硫化检测电阻器,其特征在于,具有:
长方体形状的绝缘基板,
一对表面电极,其形成在所述绝缘基板的主面的相向的两端部,
多个硫化检测导体,其并排配置在所述一对表面电极之间,
多个电阻体,其连接在所述一对表面电极的至少一个与所述多个硫化检测导体之间,以及
硫化气体非渗透性保护膜,其覆盖所述多个电阻体的整体和所述多个硫化检测导体的一部分,
所述多个硫化检测导体分别具有从所述保护膜露出的硫化检测部,通过用由硫化速度调整层选择性地覆盖这些多个硫化检测部,从而设定成根据所述多个硫化检测部累积的硫化量而断线的时刻各不相同。
2.根据权利要求1所述的硫化检测电阻器,其特征在于,
所述硫化速度调整层由加快所述硫化检测部的硫化速度的硅树脂制成。
3.根据权利要求1所述的硫化检测电阻器,其特征在于,
所述硫化速度调整层由减慢所述硫化检测部的硫化速度的硫化气体渗透性树脂构成。
4.根据权利要求1所述的硫化检测电阻器,其特征在于,
所述保护膜具有隔离部,其介于并排配置的所述多个硫化检测部之间。
5.根据权利要求1所述的硫化检测电阻器,其特征在于,
由玻璃材料制成的预涂层介于所述电阻体和所述保护膜之间,所述预涂层的一端部从所述保护膜突出而划定所述硫化检测部。
6.根据权利要求1所述的硫化检测电阻器,其特征在于,
所述多个硫化检测导体在彼此的材料组成和膜厚中至少一者不同。
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