[发明专利]一种核物料测量装置

说明书

本发明涉及一种核物料测量装置，包括物料通道、中子测量结构和同位素探测结构；所述物料通道伸入所述中子测量结构以便其对所述物料通道中的核物料进行中子测量；所述中子测量结构上设置有与所述同位素探测结构相配合的探测狭缝以便所述同位素探测结构对所述核物料进行同位素测量。本发明的有益效果如下：本发明通过在中子测量结构上设置探测狭缝的方式，实现了包括中子测量和同位素测量(γ测量)的综合测量自动化，避免操作人员的辐射危险，保障了人员的安全。本发明能够对分布于搁架中不同位置的核物料进行测量，同时能够完好的屏蔽物料核辐射，使测量环境辐射水平保持在较低水平。

技术领域

本发明属于核工业领域，具体涉及一种桶物料测量装置。

背景技术

对于核物料特别是含钚物料，一般测量的目的是得到核物料的同位素信息和含钚质量。

现有技术中一般采用井型中子测量测量设备测量钚质量，而后用高纯锗探测器测量物料的同位素信息。

现实操作中，对于放置于样品搁架中的多个核物料的测量具有较大难度。用于核工业的核物料带有危险的放射性。这些核物料产生的辐射对人体危害极大，故在核物料的转运过程中必须保证操作者的安全性。而高纯锗探测器进行γ测量时常常采用开放式测量，操作者在测量时需要移动探测器来对准搁架中不同高度的测量样品，存在辐射安全问题。

并且目前尚未有合适的设备能够对于放置于搁架中的多个同位素不完全相同的核物料进行同位素和总钚质量综合测量分析。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的是提供一种核物料测量装置，本技术方案能够以实现核物料自动综合测量。

本发明的技术方案如下：

一种核物料测量装置，包括物料通道、中子测量结构和同位素探测结构；所述物料通道伸入所述中子测量结构以便其对所述物料通道中的核物料进行中子测量；所述中子测量结构上设置有与所述同位素探测结构相配合的探测狭缝以便所述同位素探测结构对所述核物料进行同位素测量。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述中子测量结构包括铅屏蔽层、内层聚乙烯慢化体、石墨反射层、外层聚乙烯屏蔽体和测量组件；所述物料通道伸入所述铅屏蔽层形成测量腔；所述铅屏蔽层外侧依次包覆有内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和外层聚乙烯屏蔽体；所述测量组件的中子探测器嵌入所述内层聚乙烯慢化体；所述探测狭缝穿过铅屏蔽层、内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和外层聚乙烯屏蔽体。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和/或外层聚乙烯屏蔽体中由相应材质的多块板件叠放形成，通过紧固螺杆与所述中子测量结构的底座固定连接。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述物料通道包括预埋管道、中间管道和测量管道；其中预埋管道预埋在测量室的顶部，中间管道连接预埋管道和测量管道；测量管道下端定位于所述中子测量结构的底座上。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述测量管道与中间管道之间设置有用于与核物料搁架配合的台阶。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述同位素探测结构包括垂直移动部件和探测器平台；同位素探测器安装于所述探测器平台上，所述探测器平台能够带动所述同位素探测器沿所述垂直移动部件竖直移动以使所述同位素探测器的探头对准所述探测狭缝内的核物料。

进一步地，上述的核物料测量装置，所述中子测量结构和同位素探测结构均设置于测量室内，所述物料通道穿过所述测量室的室壁以伸入所述中子测量结构。

本发明的有益效果如下：

1、本发明通过在中子测量结构上设置探测狭缝的方式，实现了包括中子测量和同位素测量(γ测量)的综合测量自动化，避免操作人员的辐射危险，保障了人员的安全。