[发明专利]一种核物料测量装置

权利要求书

1.一种核物料测量装置，其特征在于，包括物料通道、中子测量结构和同位素探测结构；所述物料通道伸入所述中子测量结构以便其对所述物料通道中的核物料进行中子测量；所述中子测量结构上设置有与所述同位素探测结构相配合的探测狭缝以便所述同位素探测结构对所述核物料进行同位素测量，所述中子测量结构包括铅屏蔽层、内层聚乙烯慢化体、石墨反射层、外层聚乙烯屏蔽体和测量组件；所述物料通道伸入所述铅屏蔽层形成测量腔；所述铅屏蔽层外侧依次包覆有内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和外层聚乙烯屏蔽体；所述测量组件的中子探测器嵌入所述内层聚乙烯慢化体；所述探测狭缝穿过铅屏蔽层、内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和外层聚乙烯屏蔽体，所述物料通道包括预埋管道、中间管道和测量管道；其中预埋管道预埋在测量室的顶部，中间管道连接预埋管道和测量管道；测量管道下端定位于所述中子测量结构的底座上。

2.如权利要求1所述的核物料测量装置，其特征在于，所述内层聚乙烯慢化体、石墨反射层和/或外层聚乙烯屏蔽体中由相应材质的多块板件叠放形成，通过紧固螺杆与所述中子测量结构的底座固定连接。

3.如权利要求1所述的核物料测量装置，其特征在于，所述测量管道与中间管道之间设置有用于与核物料搁架配合的台阶。

4.如权利要求1所述的核物料测量装置，其特征在于，所述同位素探测结构包括垂直移动部件和探测器平台；同位素探测器安装于所述探测器平台上，所述探测器平台能够带动所述同位素探测器沿所述垂直移动部件竖直移动以使所述同位素探测器的探头对准所述探测狭缝内的核物料。

5.如权利要求1-4任一所述的核物料测量装置，其特征在于，所述中子测量结构和同位素探测结构均设置于测量室内，所述物料通道穿过所述测量室的室壁以伸入所述中子测量结构。