[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取预先设置的虚拟棋盘阶数，基于虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到虚拟棋盘上符合虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果，统计预设时长内得到搜索成功结果的总次数，基于总次数，确定运算性能测试结果。通过对虚拟棋盘进行搜索，得到了虚拟棋盘上符合虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果，进而统计出预设时长内能够得到搜索成功结果的总次数，基于总次数，能够测试出一段时长内能够得到多少个搜索成功结果，实现了对电子设备在特定问题求解方面的性能测试，尤其是实现了在皇后问题求解上的性能测试。

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。

目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。

当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果。然而，电子设备在实际应用中，还需要对例如皇后问题等特定问题进行求解，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备对特定问题的求解能力。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在特定问题求解方面的性能测试。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：

获取预先设置的虚拟棋盘阶数；

基于虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到虚拟棋盘上符合虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果，其中，安全状态是指：任两个被占用位置不同行、不同列、不在同一斜线上；

统计预设时长内得到搜索成功结果的总次数；

基于总次数，确定运算性能测试结果。

可选的，获取预先设置的虚拟棋盘阶数的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

根据处理器性能参数，设置虚拟棋盘阶数。

可选的，基于虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到虚拟棋盘上符合虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果的步骤，包括：

从虚拟棋盘的第一行第一个位置开始搜索；

若搜索到的当前行中当前位置被占用后处于安全状态，则设置当前位置为已被占用状态，将当前位置加入已占用点集，其中，已占用点集用于记录为已被占用状态的位置；

若当前行中没有任何一个位置被占用后处于安全状态，则回退至对上一行继续进行搜索，并将上一行中已加入已占用点集的位置从已占用点集中移出，清除该位置的已被占用状态；

若当前行不是最后一行，则继续对下一行进行搜索；

若当前行是最后一行，则将当前位置从已占用点集中移出，以回退至对上一行继续进行搜索。

可选的，在基于虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到虚拟棋盘上符合虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果的步骤之前，该方法还包括：

启动计时器，并将计数器清零；