[发明专利]一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种运算性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预先设置的虚拟棋盘阶数；

基于所述虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到所述虚拟棋盘上符合所述虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果，其中，所述安全状态是指：任两个被占用位置不同行、不同列、不在同一斜线上；

统计预设时长内得到搜索成功结果的总次数；

基于所述总次数，确定运算性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预先设置的虚拟棋盘阶数的步骤，包括：

获取处理器性能参数；

根据所述处理器性能参数，设置虚拟棋盘阶数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到所述虚拟棋盘上符合所述虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果的步骤，包括：

从虚拟棋盘的第一行第一个位置开始搜索；

若搜索到的当前行中当前位置被占用后处于安全状态，则设置所述当前位置为已被占用状态，将所述当前位置加入已占用点集，其中，所述已占用点集用于记录为已被占用状态的位置；

若所述当前行中没有任何一个位置被占用后处于安全状态，则回退至对上一行继续进行搜索，并将上一行中已加入所述已占用点集的位置从所述已占用点集中移出，清除该位置的已被占用状态；

若所述当前行不是最后一行，则继续对下一行进行搜索；

若所述当前行是最后一行，则将所述当前位置从所述已占用点集中移出，以回退至对上一行继续进行搜索。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述基于所述虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到所述虚拟棋盘上符合所述虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果的步骤之前，所述方法还包括：

启动计时器，并将计数器清零；

清零已占用点集；

所述统计预设时长内得到搜索成功结果的总次数的步骤，包括：

若搜索到最后一行中的当前位置被占用后处于安全状态，则将所述计数器的数值累加1；

若所述计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行所述清零已占用点集的步骤；

若所述计时器的计时时长达到所述预设时长，则从所述计数器中读取出所述预设时长内得到搜索成功结果的总次数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述总次数，确定运算性能测试结果的步骤，包括：

根据所述总次数及所述预设时长，计算平均完成速度；

基于所述平均完成速度，确定运算性能测试结果，其中，所述运算性能测试结果为测试评分，所述测试评分与所述平均完成速度成正比关系。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，在所述基于所述总次数，确定运算性能测试结果的步骤之后，所述方法还包括：

将所述运算性能测试结果输出至测试界面。

7.一种运算性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取预先设置的虚拟棋盘阶数；

运算模块，用于基于所述虚拟棋盘阶数，对虚拟棋盘进行搜索，得到所述虚拟棋盘上符合所述虚拟棋盘阶数的被占用位置处于安全状态的搜索成功结果，其中，所述安全状态是指：任两个被占用位置不同行、不同列、不在同一斜线上；

统计模块，用于统计预设时长内得到搜索成功结果的总次数；

确定模块，用于基于所述总次数，确定运算性能测试结果。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述获取模块，具体用于获取处理器性能参数；根据所述处理器性能参数，设置虚拟棋盘阶数。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，其中，所述存储器，用于存放计算机程序；所述处理器，用于执行所述存储器上所存放的计算机程序时，实现权利要求1-6中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。