[发明专利]芯片及其开发工具的测试系统、测试方法及装置

权利要求书

1.一种芯片及其开发工具的测试系统，其特征在于，包括：

功能配置模块，用于配置待测对象的配置信息，其中，所述配置信息至少包括：测试用例类型，所述待测对象为所述芯片或所述芯片的开发工具；

用例筛选模块，用于根据所述测试用例类型筛选与所述待测对象对应的测试用例；

流程处理模块，用于生成测试流程信息，其中，所述测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，所述测试流程包括至少一个主流程和所述主流程对应的子流程，所述测试流程属性用于表示是否执行所述测试流程中的任意一个主流程或任意一个子流程；

自动化检测模块，用于使用筛选的测试用例按照所述测试流程对所述待测对象进行测试，根据所述测试流程属性对所述待测对象进行自动化测试，

所述用例筛选模块包括用例器件映射表和约束器件映射表，其中，所述用例器件映射表用于记录器件与测试用例的支持关系，所述约束器件映射表用于记录器件与约束位置的关系；

所述用例筛选模块还用于对所述待测对象不支持的测试用例进行标记，在测试用例筛选时将标记的测试用例筛除，并对有约束文件且测试流程需要约束文件的测试用例在进行测试用例筛选时，根据所述约束器件映射表修改约束文件中的约束位置。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述自动化检测模块还用于对筛选出的多个测试用例执行所述测试流程，并生成对应的测试结果，其中，当任意一个测试流程的测试结果为测试错误，则禁止执行后续的测试流程。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

检测报告生成模块，所述检测报告生成模块用于将所述测试结果转换为预设格式，其中，所述测试结果包括如下至少一项：测试用例总数量、错误测试用例数量、错误流程以及错误测试用例放置路径。

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述功能配置模块还用于进行资源配置、器件配置和错误测试用例处理方式配置，其中，所述资源配置包括串行资源配置和并行资源配置，所述器件配置包括串行器件配置和并行器件配置，所述错误测试用例处理方式配置包括保留错误测试用例和删除错误测试用例。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述自动化检测模块还用于根据所述资源配置并行或串行的使用筛选的测试用例进入所述测试流程，并根据所述器件配置并行或串行的对多个所述待测对象基于所述测试流程属性进行自动化测试。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

语音提示模块，所述语音提示模块用于对如下至少一项信息进行语音提示：所述配置信息、所述测试流程和检测结束的结束信息。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试流程包括主流程和子流程，所述主流程和所述子流程以树形结构记录在映射表中，所述映射表通过可视化界面展示在上位机的控制界面上，其中，当所述主流程的测试流程属性为不执行的情况下，输入所述主流程的子流程的测试流程属性均为不执行。

8.一种芯片及其开发工具的测试方法，其特征在于，包括：

获取待测对象的配置信息和测试流程信息，其中，所述配置信息至少包括测试用例类型，所述测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，所述测试流程属性用于表示是否执行所述测试流程，所述待测对象为所述芯片或所述芯片的开发工具；

根据所述测试用例类型筛选与所述待测对象对应的测试用例；

使用筛选的测试用例进入测试流程，根据所述测试流程属性对所述待测对象进行自动测试，

所述方法还包括：

记录器件与测试用例的支持关系；

记录器件与约束位置的关系；

对所述待测对象不支持的测试用例进行标记，在测试用例筛选时将标记的测试用例筛除，并对有约束文件且测试流程需要约束文件的测试用例在进行测试用例筛选时，根据约束器件映射表修改约束文件中的约束位置。

9.一种芯片及其开发工具的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测对象的配置信息和测试流程信息，其中，所述配置信息至少包括测试用例类型，所述测试流程信息至少包括测试流程和测试流程属性，所述测试流程属性用于表示是否执行所述测试流程，所述待测对象为所述芯片或所述芯片的开发工具；

筛选模块，用于根据所述测试用例类型筛选与所述待测对象对应的测试用例；

测试模块，用于使用筛选的测试用例进入测试流程，根据所述测试流程属性对所述待测对象进行自动测试，

所述装置还用于记录器件与测试用例的支持关系；记录器件与约束位置的关系；对所述待测对象不支持的测试用例进行标记，在测试用例筛选时将标记的测试用例筛除，并对有约束文件且测试流程需要约束文件的测试用例在进行测试用例筛选时，根据约束器件映射表修改约束文件中的约束位置。