[发明专利]智能存储器装置测试架

权利要求书

1.一种测试架，其包括：

多个存储器装置测试板，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个包括多个存储器装置测试资源，并且其中所述多个存储器装置测试板中的每一个包括被分配给对应存储器装置测试板的所述多个存储器装置测试资源的单独处理装置，并且其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述单独处理装置将执行包括以下各项的操作：

检测第一存储器子系统已与所述对应存储器装置测试板的所述多个存储器装置测试资源中的第一存储器装置测试资源接合；

识别将针对所述第一存储器子系统的第一存储器装置执行的第一测试，其中所述第一测试包括要在执行所述第一测试时执行的一或多个第一测试指令；以及

使所述一或多个第一测试指令传输到所述第一存储器子系统，其中所述第一测试通过在所述第一存储器子系统处执行所述一或多个第一测试指令来执行。

2.根据权利要求1所述的测试架，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述单独处理装置将执行进一步包括以下各项的操作：

检测第二存储器子系统已与所述对应存储器装置测试板的所述多个存储器装置测试资源中的第二存储器装置测试资源接合；

识别将针对所述第二存储器子系统的第二存储器装置执行的第二测试，其中所述第二测试包括要在执行所述第二测试时执行的一或多个第二测试指令；

使所述一或多个第二测试指令从所述第二存储器装置测试资源传输到所述第二存储器子系统；以及

将第一信号传输到所述第一存储器子系统，并将第二信号传输到所述第二存储器子系统，其中所述第一信号和所述第二信号使所述第一存储器子系统执行所述一或多个第一测试指令，同时使所述第二存储器子系统执行所述一或多个第二测试指令。

3.根据权利要求1所述的测试架，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述处理装置将执行进一步包括以下各项的操作：

从所述第一存储器子系统接收针对所述第一存储器装置执行的所述第一测试的第一组测试结果。

4.根据权利要求1所述的测试架，其中所述第一存储器子系统经由存储器子系统接口端口与所述第一存储器装置测试资源接合，所述存储器子系统接口端口包括：第一组串行输入/输出IO引脚，其配置成耦合到所述第一存储器子系统的对应串行IO插口；及第二组IO引脚，其配置成耦合到所述第一存储器子系统的对应非串行IO插口，并且其中所述一或多个第一测试指令经由所述存储器子系统接口端口的所述第一组串行IO引脚传输到所述第一存储器子系统。

5.根据权利要求1所述的测试架，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述处理装置将执行进一步包括以下各项的操作：

基于将针对所述第一存储器装置执行的所述第一测试的所述一或多个第一测试指令，使所述第一存储器装置测试资源的测试条件组件产生将施加到所述第一存储器子系统的第一测试条件；以及

从所述第一存储器装置测试资源的测试资源监测组件接收与所述第一存储器装置测试资源内的一或多个条件相关联的数据，其中所述一或多个条件包括由所述测试条件组件产生的所述第一测试条件。

6.根据权利要求5所述的测试架，其中所述多个存储器装置测试板中的每一个的所述处理装置将执行进一步包括以下各项的操作：

使所述测试条件组件产生当所述第一测试在所述第一存储器装置处执行时施加到所述第一存储器子系统的第二测试条件。

7.根据权利要求5所述的测试架，其中所述测试条件组件包括温度控制器或电压控制器中的至少一个，并且所述测试资源监测组件包括温度监测组件、电压监测组件、电流监测组件或湿度监测组件中的至少一个。