[发明专利]多核计算芯片在审
申请号: | 202011493560.7 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112527581A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 徐淑晓;王玮;胡水海 | 申请(专利权)人: | 深圳致星科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 | 代理人: | 贺小旺 |
地址: | 518038 广东省深圳市南山区粤海街道大冲社*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 多核 计算 芯片 | ||
本申请公开了一种多核计算芯片,所述多核计算芯片包括多个用于并行计算的计算引擎,还包括:存储部件,用于存储测试向量和所述测试向量对应的预期结果;控制与测试部件,用于控制所述计算引擎根据所述存储部件中存储的测试向量对自身进行测试得到所述计算引擎的所述测试向量对应的测试结果,结合所述存储部件中存储的所述测试向量对应的预期结果,确定所述多个计算引擎中是否存在异常计算引擎。通过这种方式,能够对多核芯片定时或实时检测,该多核计算芯片特别适用于隐私计算领域。
技术领域
本申请涉及芯片技术领域,特别是涉及一种多核计算芯片。
背景技术
芯片内部由大量的晶体管单元组成,在生产加工过程中容易不可避免的引入一些制造缺陷,导致一些单元不能正常工作,导致整个芯片无法正常工作。因此必须对芯片进行测试,识别出有瑕疵的芯片。
随着工艺节点的降低,芯片面积的增大,单芯片内部发生制造缺陷的概率也随之增加。现有的芯片测试方式一般是在芯片被集成到终端产品之前用测试机台将有瑕疵的芯片检测出来,并将有瑕疵的芯片丢弃掉。
但是,现有技术无法对多核芯片(即多个计算引擎)进行定时或实时检测;当只有个别核心(即计算引擎)有制造缺陷而采取丢弃的方式会大幅降低芯片的良率并增加芯片的成本;对于在使用过程中出现的功能性错误,只能采取更换芯片的方式修复,增加维修成本。
发明内容
基于此,本申请提供一种多核计算芯片,能够对多核芯片定时或实时检测,能够对异常核心进行处理,从而为降低芯片成本和维修成本提供技术支持。
第一方面,本申请提供一种多核计算芯片,所述多核计算芯片包括多个用于并行计算的计算引擎,所述多核计算芯片还包括:
存储部件,用于存储测试向量和所述测试向量对应的预期结果;
控制与测试部件,用于控制所述计算引擎根据所述存储部件中存储的测试向量对自身进行测试得到所述计算引擎的所述测试向量对应的测试结果,结合所述存储部件中存储的所述测试向量对应的预期结果,确定所述多个计算引擎中是否存在异常计算引擎。
第二方面,本申请提供另一种多核计算芯片,所述多核计算芯片包括多个用于并行计算的计算引擎,所述多核计算芯片还包括:
异常核心处理部件,用于在多个计算引擎中存在异常计算引擎时,在控制指令下对所述异常计算引擎进行处理;
对所述异常计算引擎进行处理包括:对所述异常计算引擎进行标记处理和/或在处于工作模式时对所述异常计算引擎进行屏蔽处理。
本申请实施例提供了一种多核计算芯片,所述多核计算芯片包括多个用于并行计算的计算引擎,还包括:存储部件,用于存储测试向量和所述测试向量对应的预期结果;控制与测试部件,用于控制所述计算引擎根据所述存储部件中存储的测试向量对自身进行测试得到所述计算引擎的所述测试向量对应的测试结果,结合所述存储部件中存储的所述测试向量对应的预期结果,确定所述多个计算引擎中是否存在异常计算引擎。由于存储测试向量和所述测试向量对应的预期结果的存储部件和控制所述计算引擎对自身进行测试的控制与测试部件和计算引擎集成在一起,属于芯片不可分割的部件,通过这种方式,能够对多核计算芯片中的多个计算引擎进行定时或实时检测。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳致星科技有限公司,未经深圳致星科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011493560.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种PCB板金属化半孔制作工艺
- 下一篇:无人设备定位方法及无人设备