[发明专利]一种反馈式图像质量补偿校正自动化判定系统及方法有效

专利信息
申请号: 202011489344.5 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112672142B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 张雷;白芸;陈茂胜;贺小军;邹吉炜;曹金彦;姜健;李瑞峰 申请(专利权)人: 长光卫星技术股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G06T5/00
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 刘景祥
地址: 130000 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 反馈 图像 质量 补偿 校正 自动化 判定 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种反馈式调试CCD相机参数的方法,基于一种反馈式调试CCD相机参数的系统,所述系统包括CCD相机和测试PC机,其中,所述CCD相机包含FPGA信号处理模块、视频处理模块和接口模块;所述测试PC机包含参数配置模块、图像采集模块和像质判定模块,其中,

在CCD相机中,

所述FPGA信号处理模块,用于根据所述接口模块中的通信接口接收到的配置参数对所述CCD相机进行参数配置,所述参数配置包括所述CCD相机的成像参数配置;并将配置后CCD相机的成像数据按约定格式输出至所述接口模块的数传接口;

所述视频处理模块,用于对所述CCD相机输出的模拟信号进行双采样及模数转换,并将转换后的数字信号输出至所述FPGA信号处理模块;

所述接口模块,包括数传接口和通信接口,所述数传接口,用于将所述CCD相机的成像数据发送至所述测试PC机;所述通信接口,用于接收所述测试PC机发送的配置参数,并向所述测试PC机反馈所述CCD相机基于接收的所述配置参数进行参数配置的配置状态;

所述测试PC机中,

所述参数配置模块,用于输入各待测参数及各所述待测参数的配置范围和最小步长;根据所述CCD相机在各所述待测参数的当前参数值下发送至所述测试PC机的成像数据的像质判定结果,确定各所述待测参数下一步参数值,并将各所述待测参数的下一步参数值作为新的配置参数发送至所述通信接口;

所述图像采集模块,用于将经由所述数传接口接收到的成像数据处理后,在所述测试PC机实时显示以用于测试者直接观察,并对显示图像进行存储,存储图像用于像质判定;

所述像质判定模块,用于对所述存储图像进行像质判定,并将像质判定结果反馈至所述参数配置模块,其中,所述像质判定涉及的判定项包括所述存储图像的图像瑕疵和主要指标,所述图像瑕疵包括图像失真、图像周期性条纹和图像噪点,所述主要指标包括图像均匀性、信噪比和调制传递函数;

所述通信接口采用CAN接口,所述数传接口采用TLK2711接口,

其特征在于,所述方法包括以下步骤:

步骤一:在参数配置模块中,按照各所述待测参数的优先级,依次输入各待测参数的名称、配置范围、最小步长和默认值;

步骤二:在像质判定模块中,勾选像质判定涉及的判定项;

步骤三:选取各所述待测参数中优先级最高的待测参数,根据所述优先级最高的待测参数的配置范围和最小步长,计算测试所需次数,若不高于5次,则按最小步长设置参数值作为测试点;若所需次数高于5次,则将配置范围等分为四段测试区间,选取所述四段测试区间端点处的5个参数值作为测试点;

步骤四:将所述优先级最高的待测参数的当前参数值依次设置为各所述测试点对应的参数值,将所述优先级最高的待测参数之外的其余待测参数均设置为默认值,并通过所述通信接口发送至所述CCD相机;FPGA信号处理模块通过所述通信接口向所述测试PC机返回配置状态,若配置无误,则图像采集模块对CCD相机的成像数据进行采集并实时显示;

步骤五:参数配置模块将所述优先级最高的待测参数的每个测试点的像质判定结果进行实时比对;若连续两个测试点均存在图像瑕疵,则抛弃以所述连续两个测试点为端点的测试区间;若连续三个测试点均无图像瑕疵,但所述主要指标中至少一项存在连续下降趋势,则抛弃以所述三个测试点中后两个测试点为端点的测试区间,且其后续测试区间不必再测试;

步骤六:在保留的测试区间中,若每个测试区间的取值范围不高于最小步长的2倍,则按照最小步长在保留的测试区间中补充测试点,并执行步骤四和步骤五;若每个测试区间的取值范围高于最小步长的2倍,则在每个保留的测试区间中取其中心点作为补充测试点,并重复执行步骤四至步骤六,直至按最小步长补充测试点为止;

步骤七:在最终保留的测试区间中,取各主要指标的稳定持高区域,以各区域交集的中心值作为所述优先级最高的待测参数的最优配置值;

步骤八:将所述优先级最高的待测参数的最优配置值作为其默认值,并将所述其余待测 参数中优先级最高的待测参数作为新的优先级最高的待测参数,重复执行步骤三至步骤七,依次确定所有待测参数的最优配置值,进而确定所述CCD相机的所述各待测参数的最优参数组合。

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