[发明专利]一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案

说明书

本发明公开了一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，治具分为通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，原理是在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT Cartridge上盖对于一些需要测试射频接口的部分进行避位开窗通过RF Probe连接接触，RF Probe固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器，以上根据DUT的不同和射频接口的不同只需要更换特定的DUT Cartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夹具不需要更换，本发明具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点。

技术领域

本发明涉及主板测试相关技术领域，具体为一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案。

背景技术

测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。

传统的主板测试治具体积大，占用一定的空间，不方便进行搬运，并且不可重复利用，而且对于主板性能的测试效率比较低，平时需要技术人员定期的对治具进行维护，维护工作量较大，占用人力，并且治具的成本也非常的高。

发明内容

本发明的目的是针对现有的问题，提供一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，解决了上述背景技术中提出的问题，提供了一种更高效，更可靠，低成本，体积小，可重复利用，方便维护，低噪音，无污染的通用射频测试治具方案。

本发明为实现上述技术目的所采用的技术方案为：一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，包括通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUT Cartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RF Probe，RF Probe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。

优选的，所述DUT Cartridge内部采用冷却气流槽设计，DUT不会过温，保证DUT的测试稳定性。

优选的，屏蔽箱和夹具为通用设备，根据DUT的不同或者DUT射频接口的不同只需要更换DUT Cartridge或者Probe面板即可。

优选的，模块化所述DUT Cartridge与DUT之间信号的转接是通过转接针的方式进行转接。

优选的，所述probe面板上安装有Rf probe，并且Rf probe独立固定在夹具上框架。

优选的，所述夹具的气缸在压合时，通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。

本发明的有益效果为：

1.可替换DUT Cartridge和Probe面板，模块化DUT Cartridge通过转接针将信号转接至DUT。Rf Probe安装于Probe面板上，独立固定在夹具上框架，夹具气缸压合时通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。使得DUT与DUT Cartridge转接针、Rf Probe有效连接测试。

2.可替换DUT Cartridge和Probe面板的设计变的简易；对于DUT的更新变动，设计人员仅需要考虑设计DUT Cartridge和Probe面板，节约设计时间,降低成本。