[发明专利]一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案

权利要求书

1.一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：包括通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUT Cartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RF Probe，RF Probe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。

2.根据权利要求1所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：所述DUT Cartridge内部采用冷却气流槽设计，DUT不会过温，保证DUT的测试稳定性。

3.根据权利要求1所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：屏蔽箱和夹具为通用设备，根据DUT的不同或者DUT射频接口的不同只需要更换DUTCartridge或者Probe面板即可。

4.根据权利要求1所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：模块化所述DUT Cartridge与DUT之间信号的转接是通过转接针的方式进行转接。

5.根据权利要求1所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：所述probe面板上安装有Rf probe，并且Rf probe独立固定在夹具上框架。

6.根据权利要求5所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：所述夹具的气缸在压合时，通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。