[发明专利]一种非线性光学卷积神经网络的图像识别方法在审

专利信息
申请号: 202011456497.X 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112699917A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 于明鑫;祝连庆;董明利;张东亮;庄炜;张旭;夏嘉斌 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06N3/04;G06N3/067;G06N3/08
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 庞立岩;顾珊
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 非线性 光学 卷积 神经网络 图像 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种非线性光学卷积神经网络的图像识别方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

步骤a、设计光学卷积核结构、光学卷积特征图和计算方法;

步骤b、构建一层光学卷积神经网络模型,给出所述光学卷积核结构和所述光学卷积特征图的卷积计算公式;

步骤c、利用Swish非线性激活函数对所述光学卷积特征图进行非线性映射;

步骤d、构建多层所述光学卷积神经网络模型,并用Adam算法进行优化;

步骤e、在MNIST数据库上训练与测试模型,获得测试结果。

2.根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于,步骤a中,所述光学卷积核采用平铺方式,其卷积核数量为16个,光学卷积通过点扩散函数计算,公式为:

其中,*表示二维卷积,PSF表示点扩散函数,Γ表示偏移量,Δx和Δy分别表示在垂直和水平方向上移动的距离,目的是卷积核与图像不发生重叠,Wi对应第i个卷积核,Iout表示对应卷积核输出的光学卷积特征图,其为平铺方式,

3.根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于,步骤c中,激活函数Swish表示为:其中,β=0.1。

4.根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于,步骤d中,运用所述Adam算法进行优化时,非线性光学卷积神经网络损失函数表示为:其中,为目标值,为估计值,约束条件为:W>0,即点扩散函数不能有负值。

5.根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于,步骤e中,采用MNIST手写数字图像集作为测试图像,所述数据图像集共70000幅大小为28×28手写数字0~9图像,其中,55000幅图像为训练集,5000幅图像为验证集,10000幅图像为测试集。

6.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:

步骤①、对MNIST中的三个图像数据集进行预处理,将手写数字图像放大至200×200;

步骤②、使用所述55000幅训练图像训练非线性光学卷积神经网络模型,然后,使用所述5000幅验证图像集对训练的模型进行验证。训练参数分别为:训练周期为1000,每个周期采用的批量为100个样本;

步骤③、使用所述10000测试图像对步骤②中训练得到的模型进行测试,识别准确率为97.87%。

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