[发明专利]曲面激光测厚方法、装置、铁轨汽车及存储介质

说明书

本发明公开了一种曲面激光测厚方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：通过获取相互平行的第一参考水平直线与第一参考水平直线；根据所述第一参考水平直线与所述不规则被测物一侧上各个采集点的距离，得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标；对所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标进行拟合，得到第一拟合曲线；根据所述第一拟合曲线得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的第一法线向量；同理得到第二法线向量；根据所述第一法线向量和第二法线向量得到法向厚度，从而通过建立坐标系，得到不规则被测物的各个面形成的拟合曲线，并根据拟合曲线得到法线向量，实现任一点任意方向的厚度计算，扩大测量对象的范围。

技术领域

本发明涉及激光测厚技术领域，尤其涉及一种曲面激光测厚方法、装置、铁轨汽车及存储介质。

背景技术

对于板状结构以及具有规则曲面的物体来说，现有的激光测厚方法能够便捷精确的测量其厚度。但对于表面不规则的物体，尤其对于一些原本是规则的表面，但经过侵蚀而不规则的物体来说，现有的激光测厚方法无法获取某点的法向厚度。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种曲面激光测厚方法、装置、铁轨汽车及存储介质，旨在解决现有技术中无法对不规则的物体进行激光测厚的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种曲面激光测厚方法，所述曲面激光测厚方法包括以下步骤：

获取相互平行的第一参考水平直线与第二参考水平直线，其中，所述第一参考水平直线相对于不规则被测物一侧，所述第二参考水平直线相对于所述不规则被测物另一侧；

根据所述第一参考水平直线与所述不规则被测物一侧上各个采集点的距离，得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标；

对所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标进行拟合，得到第一拟合曲线；

根据所述第一拟合曲线得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的第一法线向量；

根据所述第二参考水平直线与所述不规则被测物另一侧上各个采集点的距离，得到所述不规则被测物另一侧上各个采集点的拟合点坐标；

对所述不规则被测物另一侧上各个采集点的拟合点坐标进行拟合，得到第二拟合曲线；

根据所述第二拟合曲线得到所述不规则被测物另一侧上各个采集点的第二法线向量；

根据所述第一法线向量和第二法线向量得到所述不规则被测物上各个采集点的法向厚度。

可选地，所述根据所述第一参考水平直线与所述不规则被测物一侧上各个采集点的距离，得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标之前，还包括：

从所述不规则被测物一侧上选取一点作为第一基准点；

建立平面坐标系，根据所述平面坐标系以及第一参考水平直线确定所述第一基准点的坐标；

所述根据所述第一参考水平直线与所述不规则被测物一侧上各个采集点的距离，得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标，包括：

根据所述第一参考水平直线与所述不规则被测物一侧上各个采集点的距离、所述平面坐标系以及所述第一基准点的坐标，得到所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标。

可选地，所述对所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标进行拟合，得到第一拟合曲线，包括：

根据所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标得到多组控制点坐标；

获取所述不规则被测物一侧上各个采集点的拟合点坐标对应的权因子以及预设B样条基函数；

根据所述多组控制点坐标、权因子以及预设B样条基函数进行拟合，得到第一拟合曲线。