[发明专利]精度自检的路面三维纹理测量方法及系统、存储介质有效
申请号: | 202011415731.4 | 申请日: | 2020-12-03 |
公开(公告)号: | CN112697072B | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 王元元;成羽;乐英高;薛金顺 | 申请(专利权)人: | 湖北文理学院 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01B11/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 441053 湖北省襄*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 精度 自检 路面 三维 纹理 测量方法 系统 存储 介质 | ||
本发明公开了一种精度自检的路面三维纹理测量方法及系统、存储介质,精度自检的路面三维纹理测量方法包括:基于双目重构装置获得待测路面的三维重构结果;获取待测路面的多个标记点位;基于双目重构装置获得多个标记点位的位置信息;根据位置信息计算每一标记点位的理论视差及理论高程;根据位置信息及三维重构结果获取每一标记点位的实际视差及实际高程;根据理论视差、理论高程、实际视差及实际高程计算三维重构结果的偏差值。本发明能够对该待测路面的三维重构结果进行精度自检,具有结构简单、操作方便的特征,且有助于根据精度自检结果完善待测路面三维纹理的重构技术,提高检测结果的准确度。
技术领域
本发明涉及道路工程检测技术领域,尤其涉及一种精度自检的路面三维纹理测量方法及系统、存储介质。
背景技术
良好的路面抗滑性能是行车安全的重要保障,也是项目工程质量自身的需要。精确测量路面三维纹理是为了更好地评价路面抗滑性能,服务于交通安全。大量研究表明路面抗滑性能同三维纹理之间联系密切,路面三维纹理是影响路面抗滑力形成的重要因素。国际道路协会研究发现宏观纹理和微观纹理都会影响路面抗滑性能,其中,宏观纹理形貌的波长为0.5mm~50mm,高度尺寸为0.5mm~20mm;微观纹理的波长和高度均小于0.5mm。
通常,评价路面三维纹理测量装置的测试精度主要是通过其他形貌测试设备来完成,例如:铺砂法、表明接触式探针轮廓仪、三维激光扫描仪等。但是,这种评价方式往往由于测量设备的差异,造成分辨率和测量范围的不同,难以实现单点测量或局部测量的真实评价;并且,这种评价方式常常采用全局统计平均数据作为评价结果,进行不同测量设备间测量效果的对比,而这种数据处理方式会弱化噪音成分,无形中拔高测试精度,并不是待评价装置真实的测量精度。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种能够实现路面三维纹理精确测量和精度自检的精度自检的路面三维纹理测量方法、检测系统及存储介质。
为实现上述目的,本发明提供一种精度自检的路面三维纹理测量方法,包括以下步骤:
基于双目重构装置,获得待测路面的三维重构结果;
获取所述待测路面的多个标记点位;
基于所述双目重构装置,获得所述多个标记点位的位置信息;
根据所述位置信息,计算每一所述标记点位的理论视差及理论高程;
根据所述位置信息及所述三维重构结果,获取每一所述标记点位的实际视差及实际高程;
根据所述理论视差、所述理论高程、所述实际视差及所述实际高程,计算所述三维重构结果的偏差值。
可选地,所述获取所述待测路面的多个标记点位的步骤包括:
控制光点发射器在所述待测路面上投射多个光点,其中,每一所述光点构成一标记点位。
可选地,所述基于所述双目重构装置,获得所述多个标记点位的位置信息的步骤包括:
基于双目摄像头,获取所述待测路面的第一图像及第二图像;
分别识别所述第一图像及所述第二图像上显示的所述多个标记点位;
分别提取每一所述标记点位在所述第一图像上的第一位置信息、以及在所述第二图像上的第二位置信息。
可选地,所述根据所述位置信息,计算每一所述标记点位的理论视差及理论高程的步骤包括:
根据每一所述标记点的所述第一位置信息及所述第二位置信息,计算获得每一所述标记点的理论视差;
根据所述理论视差及所述双目摄像头的相机参数,计算获得每一所述标记点的理论高程。
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