[发明专利]一种基于STM32的电机耐久测试系统

说明书

本发明公开一种基于STM32的电机耐久测试系统，包括CPU、电脑、变频器、显示器、温度检测模块、励磁电流模块、转速脉冲模块、转矩脉冲模块、转矩信号模块、电流信号模块、电压信号模块；CPU与电脑、变频器、显示器、温度检测模块、励磁电流模块、转速脉冲模块、转矩脉冲模块、转矩信号模块、电流信号模块、电压信号模块电性连接；本发明提供了减少了外部通讯，提高了测试数据实时性，整合测功机控制器和电参数测试仪，可以实现更为精确的控制和测量，可以实现更为复杂的测试和更好地对电机进行和合格性判断的一种基于STM32的电机耐久测试系统。

技术领域

本发明涉及电机耐久测试领域，更具体地说，它涉及一种基于STM32的电机耐久测试系统。

背景技术

电机耐久测试系统是由测功机、测功机控制器和电参数测试仪组成，它可以任意改变电机的负载，直接测量电机的空载、制动、负载、变负载(做曲线)等特性的测试，测量电机的输入电压、电流、功率及输出转矩、转速、输出功率及效率，可以进行电机的自动测试、手动测试、定点、耐久、堵转测试，参数测试定好后可以对电机进行合格判断。

目前市场上的电机耐久测试系统主要基于PLC控制系统的，PLC的主要功能是作为测功机控制器使用，负责与电参数测试仪、电脑、转矩转速传感器等设备通讯，结构复杂、价格相对昂贵，通讯延迟导致测试数据实时性较差。

发明内容

本发明克服了现有技术的不足，提供了减少了外部通讯，提高了测试数据实时性，整合测功机控制器和电参数测试仪，可以实现更为精确的控制和测量，可以实现更为复杂的测试和更好地对电机进行和合格性判断的一种基于STM32的电机耐久测试系统。

为了解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

一种基于STM32的电机耐久测试系统，包括CPU、电脑、变频器、显示器、温度检测模块、励磁电流模块、转速脉冲模块、转矩脉冲模块、转矩信号模块、电流信号模块、电压信号模块；CPU与电脑、变频器、显示器、温度检测模块、励磁电流模块、转速脉冲模块、转矩脉冲模块、转矩信号模块、电流信号模块、电压信号模块电性连接；

励磁电流模块通过外置DAC TLC5618和运算放大器OP07组成的信号控制电路控制恒流源输出可控的励磁电流，从而达到精确控制测功机的负载；

转速脉冲模块将转速传感器检测的旋转物体的转速转换为脉冲信号；

转矩脉冲模块将不符合要求的脉冲信号进行整形；

转矩信号模块将转矩传感器检测到的微弱电压信号通过HCPL-7840和AD8510组成的隔离放大电路放大到适合ADC采样的信号；

电流信号模块将电流信号转化成电压信号；

电压信号模块通过HCPL-7840和AD8510组成了线性隔离放大电路，将微弱的分压信号转成适合ADC采样的电压信号。

进一步的，电流信号模块包括接口P2、电阻R50、电阻R6、电容C2、电容C4、隔离放大器U1、电容C2、电容C3、隔离电源M1、电阻R7、电阻R8、电容C5、电阻R10、电阻R1、电容C1、电阻R4、电阻R5、电阻RJ1、电流放大器U2、电阻R9；

接口P2的2号引脚与电阻R6的一端、电阻R50的一端连接，电阻R50的另一端接地；接口P2的3号引脚接地；电阻R6的另一端、电容C4的一端与隔离放大器U1的2号引脚连接，电容C4的另一端与隔离放大器U1的3、4号引脚一起连接；