[发明专利]一种多探头时序校准治具及校准方法

说明书

本发明涉及探头检测领域，具体是一种多探头时序校准治具，包括：至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次接入一个检测位；时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。分别从补充时序校准的必要条件，完善时序校准的测试环境，优化时序校准的操作过程三方面实现示波器能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

技术领域

本发明涉及探头检测领域，更具体地，涉及一种多探头时序校准治具及校准方法。

背景技术

信号测试是电子产品的开发或测试中的常见测试，常用信号测试包括：测试电路元件对地信号的单端测试，如并行数据总线测试；测试电路元件正电压对负电压信号的差分测试，如DDR测试。单端测试常用单端探头，而差分测试常用差分探头。一次测试中，往往只需要进行单一端口的信号测试，更多的是多个元件在整个板中的组合信号同时测试，这种测试经常需要用到多个不同类型的探头相互配合才能完成。

探头时序差异是进行多个端口多信号同时测试的干扰之一，现有技术通常使用单端探头和差分探头与示波器相连进行信号的测试，由于自示波器不同端口的线路、接触、传感器等差异，再结合不同探头的结构和线路长短的不同，导致探头与探头之间由于各种差异导致时序不一致。每次更换探头，更换示波器接口或开关示波器，都会令探头产生时序变化，各个探头之间的相对时序延时造成的差异会影响测试的精准性，所以在信号测试中，每次进行更换探头，更换示波器接口或开关示波器之后都要重新对各个探头的时序进行校准。

现有示波器缺少直接对进行时序校准的完善设计，也不支持同时测量多个探头。虽然通过手动操作可以对示波器每个通道探头的Deskew参数进行调节，改变探头时序的快慢，但在多探头应用的过程中，逐个调节通道调节速度慢，而且相互之间没有关联，无法适应需要快速和频繁调节的实际使用。现有技术需要一项适用于示波器和探头的快速时序校准技术。

发明内容

本发明旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷，提供一种多探头时序校准治具，用于解决如何用示波器能对多个探头同时进行时序校准，消除多探头之间时序差异的问题，并进一步提供一种校准方法，利用多探头时序校准治具快速精确地对多个探头进行时序校准。

本发明采取的技术方案是，一种多探头时序校准治具，包括：至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次接入一个检测位；时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

所述多探头时序校准治具与示波器配合使用，其检测通道的数量可以是两个、三个或更多，以适用于具有不同端口数量的示波器，并使示波器上所有连接待用的探头都能接入，同时进行时序校准。基于同一类探头实际应用中具有不同的规格，如点触式和焊接式等，所以每个检测通道都具有匹配探头触头设计的检测位。同一通道每次只接入一个检测位用于对应示波器的功能设置，有助于探头的线路分布清晰易查。统一的时钟信号有助于提供各个使检测通道处于一个相同的检测环境，消除信号源导致的差异，方便多个探头之间相互比对。控制器与示波器的控制芯片相连，通过程序控制示波器进行检测数据的获取和示波器具体参数的调节。