[发明专利]一种多探头时序校准治具及校准方法

权利要求书

1.一种多探头时序校准治具，其特征在于，包括：

至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次检测时仅接入一个检测位；

时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；

控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；

所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

2.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述检测位至少包括测试单端探头的单端检测位和测试差分探头的差分检测位。

3.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述检测位设有带夹持触头的引线。

4.根据权利要求3所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，检测位的引线超过一条，相邻引线之间设有活动的绝缘挡隔。

5.根据权利要求3所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述夹持触头为磁性夹持触头。

6.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述时钟发生器的频率不高于25MHz。

7.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，同一检测通道设有切换检测位的开关。

8.一种使用权利要求1-7任一项所述的多探头时序校准治具的探头时序校准方法，其特征在于，所述探头安装在示波器的探头插座上，所述探头的测试端与所述检测位相连；所述控制器与示波器的控制芯片相连，所述方法包括：

启动多探头时序校准治具，控制器控制时钟发生器向检测通道同时发送时钟信号，并逐一导通各个检测通道，确定检测通道与探头插座之间的对应关系；

确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取多探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至多探头的所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐。

9.根据权利要求8所述的一种探头时序校准方法，其特征在于，

所述确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐，具体为：

控制器以第一个获取到的波形检测数据对应的波形为参照；

控制中心获取下一个波形检测数据，调节该波形检测数据对应的探头在示波器中的Deskew参数，使该波形检测数据对应的波形与第一个获取到的波形检测数据对应的波形纵轴对齐，继续获取下一个波形检测数据，至所有波形检测数据对应的波形重合。

10.根据权利要求9所述的一种探头时序校准方法，其特征在于，所述控制中心以第一个获取到的波形检测数据为参照时，还包括控制器调节示波器的Scale，对波形检测数据对应的波形进行放大。