[发明专利]一种测试机构及其测试装置

说明书

本发明公开了一种测试机构，包括主板、X轴模组、Y轴模组、Z轴模组和用于连接测试板的接触板，X轴模组和接触板均固定在主板上，X轴模组设置在所述接触板的两端，Y轴模组与X轴模组滑动连接，Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，Z轴模组设置在所述接触板的上方，Z轴模组包括导电针和用于推动导电针向下运动的推动器，接触板包括多个导电端，导电端与测试板上的待测芯片电性连接，当导电针向下运动时点击导电端。其还公开了一种包括测试机构的测试装置，还包括测试板和测试信号发生器，测试板与接触板电性连接，测试信号发生器与导电针电性连接。其成本低且检修方便。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种测试机构及其测试装置。

背景技术

在测试芯片领域，由于要一次性测试多块芯片，而需要在测试板上安装很多继电器，再通过继电器的断开或吸合使测试板上的待测芯片断电和通电或者是否接收测试信号，而实现分批次测试芯片的目的。

由于几乎测试板上的每一个待测芯片都需一个继电器来实现是否接受测试信号的功能，则所需继电器的数量众多，使测试的成本增加，也会使测试装置的线路复杂，检修测试装置时经常需要拆卸各个继电器，导致检修非常不方便。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种测试机构，其成本低且检修方便；

本发明的目的之二在于提供一种测试装置。

本发明的目的之一采用以下技术方案实现：

一种测试机构，包括主板、X轴模组、Y轴模组、Z轴模组和用于连接测试板的接触板，所述X轴模组和所述接触板均固定在所述主板上，所述X轴模组设置在所述接触板的两端，所述Y轴模组与所述X轴模组滑动连接，所述Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，所述Z轴模组设置在所述接触板的上方，所述Z轴模组包括导电针和用于推动所述导电针向下运动的推动器，所述接触板包括多个导电端，所述导电端与测试板上的待测芯片电性连接，当所述导电针向下运动时点击所述导电端。

优选的，所述X轴模组包括第一X轴模组和第二X轴模组，所述第一X轴模组与所述第二X轴模组平行设置，所述第一X轴模组与所述第二X轴模组分别设置在所述接触板的两侧。

优选的，所述Y轴模组包括第一Y轴模组和第二Y轴模组，所述第一Y轴模组与所述第二Y轴模组固定连接，所述第一Y轴模组与所述第一X轴模组滑动连接，所述第二Y轴模组与所述第二X轴模组滑动连接。

优选的，所述Z轴模组包括第一Z轴模组和第二Z轴模组，所述第一Z轴模组与所述第一Y轴模组滑动连接，所述第二Z轴模组与所述第二X轴模组滑动连接。

优选的，所述第一Z轴模组包括第一导电针和用于推动所述第一导电针的第一推动器，所述第一导电针设置在所述第一推动器的下端；所述第二Z轴模组包括第二导电针和用于推动所述第二导电针的第二推动器，所述第二导电针设置在所述第二推动器的下端。

优选的，所述第一X轴模组包括第一滑轴、第一滑块和第一连接板，所述第一滑轴固定在所述主板上，所述第一滑轴与所述第一滑块滑动连接，所述第一连接板固定在所述第一滑轴上，所述第一Y轴模组设置在所述第一连接板上。

优选的，所述第二X轴模组还包括第二滑块和第二连接板，所述第二滑块固定在所述主板上，所述第二连接板与所述第二滑块滑动连接，所述第二Y轴模组和所述第二Z轴模组分别固定在所述第二连接板上。

优选的，所述接触板包括第一接触板和第二接触板，所述第一接触板设置在所述第一Z轴模组的下方，所述第二接触板设置在所述第二Z轴模组的下方。

优选的，所述测试机构还包括用于驱动所述Y轴模组和所述Z轴模组的皮带轮，所述皮带轮设置在所述主板上。

本发明的目的之二采用以下技术方案实现：