[发明专利]一种适用于视觉-激光测量系统的相对位姿测量精度评估方法有效

专利信息
申请号: 202011396842.5 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN112683164B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 颜坤;赵汝进;马跃博;刘恩海;周向东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C25/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 视觉 激光 测量 系统 相对 精度 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种适用于视觉-激光测量系统的相对位姿测量精度评估方法,其特征在于,步骤如下:

步骤(1):利用视觉+激光测量系统获得第一个位置合作靶标相对于融合后的视觉+激光测量系统的旋转矩阵平移矢量初始值

步骤(2):在合作靶标不动的情况下,利用激光跟踪仪获得合作靶标相对于激光跟踪仪测量系统的旋转矩阵平移矢量初始值

步骤(3):合作靶标移动到下一个位置即第二个位置,视觉+激光测量系统和激光跟踪仪分别获得合作靶标相对于视觉+激光测量系统、激光跟踪仪测量系统两个测量系统的旋转矩阵平移矢量和旋转矩阵平移矢量

步骤(4):通过运算得到第二个位置下视觉+激光测量系统、激光跟踪仪测量系统两个测量系统相对于合作靶标的和其中为视觉+激光测量系统坐标系相对于合作靶标坐标系的旋转矩阵,为视觉+激光测量系统坐标系相对于合作靶标坐标系的平移矢量,同理,其中为激光跟踪仪测量系统坐标系相对于合作靶标坐标系的旋转矩阵,为激光跟踪仪测量系统坐标系相对于合作靶标坐标系的平移矢量;其中,

步骤(5):在视觉+激光测量系统、激光跟踪仪测量系统两个测量系统中,通过运算得到合作靶标第二个位置现对于第一个位置的旋转矩阵、平移矢量为RC、TC和RL、TL

步骤(5)中所述的合作靶标第二个位置相对于第一个位置的旋转矩阵和平移矢量的具体计算为

步骤(6):比较两个测量系统得到RC、TC和RL、TL,转换为位姿就是合作靶标运动的相对变化量,多次测量可以得到视觉+激光测量系统的相对精度。

2.根据权利要求1所述的一种适用于视觉-激光测量系统的相对位姿测量精度评估方法,其特征在于:步骤(2)中所述的激光跟踪仪获取合作靶标的位姿具体为:将激光跟踪仪放置在合作靶标附近1~2米,使得其测量精度最高;然后,将激光跟踪仪的合作靶球放置在视觉+激光测量系统的合作靶标上,测量三个点以上即可获得激光跟踪仪坐标系下的合作靶标位姿。

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