[发明专利]一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种集成电路芯片电源干扰测试系统，其特征在于，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。

2.一种集成电路芯片电源干扰测试方法，其特征在于，基于权利要求1的测试系统，所述测试方法的具体步骤如下：

步骤一：待测芯片放置入测试夹具中，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端；

步骤二：启动计算机，计算机与智能卡测试仪和测试夹具建立连接，干扰波形发生器连接测试夹具，干扰波形发生器输出端输出的干扰源接入待测芯片的电源端；

步骤三：智能卡测试仪给待测芯片提供工作电压和工作频率；

步骤四：智能卡测试仪与待测芯片进行正常交互，进行第一遍的顺次擦操作、写操作、读操作；

步骤五：待测芯片的第一遍的顺次擦操作、写操作、读操作过程中，干扰波形发生器持续给待测芯片的电源端加入电压±3V的脉冲波干扰信号；

步骤六：重复步骤五，直至待测芯片完成第800≤N≤1000遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除步骤五的脉冲波干扰信号；

步骤七：智能卡测试仪对待测芯片进行第801≤N+1≤1001遍的顺次擦操作、写操作、读操作，显示待测芯片的抗电源干扰结果，如果第801≤N+1≤1001遍的顺次擦操作、写操作、读操作过程中，智能卡测试仪显示测试结果为工作状态异常，则将该待测芯片取下，完成该测试方法。