[发明专利]一种透明柔性Micro-LED显示系统及其制备方法有效
申请号: | 202011350999.4 | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN112447509B | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 郭婵;龚政;潘章旭;王建太;庞超;胡诗犇;刘久澄;龚岩芬;陈志涛 | 申请(专利权)人: | 广东省科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;H01L27/15;G09F9/33;G09F9/30 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文;王兰兰 |
地址: | 510000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 透明 柔性 micro led 显示 系统 及其 制备 方法 | ||
1.一种透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述透明柔性Micro-LED显示系统采用直立石墨烯作为互联电极,所述方法为,包括如下步骤:
a.制备透明柔性基底;
b.将Micro-LED器件转移至透明柔性基底,Micro-LED器件的尺寸小于100μm;
c.在Micro-LED器件上,旋涂介质层并开孔;
d.加工对应互联电极图案的钼金属网格;
e.将对应互联电极图案的钼金属网格与旋涂了介质层的Micro-LED阵列对齐并固定,然后将其放于ICPCVD生长炉中,根据ICPCVD生长石墨烯的工艺参数进行Micro-LED直立石墨烯互联电极的定域生长;
f.将Micro-LED显示阵列封装,旋涂或喷涂保护层;
g.将驱动模块与直立石墨烯互联电极连接,得到透明柔性Micro-LED显示系统;
所述步骤c中,Micro-LED直立石墨烯互联电极的定域生长的步骤如下:
(1)生长环境的准备:采用电感耦合等离子体增强化学气相沉积设备,将钼金属网格固定好的Micro-LED阵列放置ICPCVD反应腔的样品台上,将设备气压抽到0.05Torr以下;同时,在抽真空过程中将衬底温度升到300℃~900℃;
(2)衬底预处理:经步骤(1)处理后,通入H2和Ar气体,使气压维持在0.03~0.05Torr,将射频功率从300W缓慢升至900W,再将衬底电压加至100V,产生等离子体,此过程持续12~18min;
(3)待步骤(2)衬底预处理完成后,依次切断电压、射频功率、H2和Ar气体,然后通入CH4和H2混合气体,使气压维持在0.45~0.55Torr,并将射频功率从300W加升至1100W、衬底电压加至150V,从而电离H2、CH4气体产生等离子体,此过程持续8~12min;
(4)待步骤(3)结束后,依次切断电压、射频功率、气体H2和CH4、衬底加热电源,在真空中将温度降至100℃以下,取出样品,移开钼金属网格,得到直立石墨烯互联的Micro-LED透明柔性阵列。
2.如权利要求1所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中,H2和Ar气体的通入体积比为1:1。
3.如权利要求2所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中,H2和Ar气体的通入量均为15sccm。
4.如权利要求1所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中,CH4和H2气体的通入体积比为6:1。
5.如权利要求4所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中,CH4的通入量为60sccm,H2气体的通入量为10sccm。
6.如权利要求1所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述透明柔性基底包括基材和设于基材上的粘附层,所述基材为PE、PP、PI、PET、天然云母片中的至少一种。
7.如权利要求1所述的透明柔性Micro-LED显示系统的制备方法,其特征在于,所述步骤g中,驱动模块采用被动矩阵模块,放置在透明柔性基底外围,采用CMOS或TFT驱动;
或者,驱动模块采用主动矩阵模块;与LED共N极或共P极的一极,通过互联电极互联在一起;另外一极直接与主动矩阵模块焊接,主动矩阵为TFT。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造