[发明专利]用于电容性或电阻性测量装置的泄漏补偿电路

权利要求书

1.一种用于测量装置(100)的泄漏补偿电路(120)，其特征在于，所述测量装置(100)包括具有泄漏装置(111)的测量电路(110)，所述泄漏装置(111)连接到测量路径(115)且产生泄漏电流(112)，所述泄漏补偿电路(120)包括：

所述泄漏装置(111)的复制装置(121)，

其中所述复制装置(121)连接到复制路径(125)，并且

其中所述复制装置(121)被配置成产生与所述泄漏装置(111)的所述泄漏电流(112)基本相等的复制泄漏电流(122a)；

电压调节器(130)，所述电压调节器(130)连接到所述测量路径(115)且连接到所述复制路径(125)，

其中所述电压调节器(130)被配置成基于所述测量路径(115)的电压来调节所述复制路径(125)中的电压；以及

电流镜(140)，所述电流镜(140)连接到所述测量路径(115)且连接到所述复制路径(125)，

其中所述电流镜(140)被配置成将所述复制装置(121)的所述复制泄漏电流(122a)镜射到所述测量路径(115)中。

2.根据权利要求1所述的泄漏补偿电路(120)，

其特征在于，所述泄漏补偿电路(120)被配置成使得镜射到所述测量路径(115)中的泄漏电流(122b)补偿由所述泄漏电流(112)造成的损耗。

3.根据权利要求1或2所述的泄漏补偿电路(120)，

其特征在于，所述电压调节器(130)包括放大器，具体地说，误差放大器，更具体地说，运算放大器。

4.根据权利要求3所述的泄漏补偿电路(120)，

其特征在于，所述放大器(130)，具体地说，所述误差放大器(130)，包括：

第一输入(130a)，具体地说，正输入，所述第一输入(130a)连接到所述测量路径(115)；

第二输入(130b)，具体地说，负输入，所述第二输入(130b)连接到作为反馈路径的复制路径(125)；以及

输出(130c)，所述输出(130c)经由调节器组件，具体地说，调节器晶体管(131)连接到所述复制路径(125)。

5.根据权利要求4所述的泄漏补偿电路(120)，

其特征在于，所述调节器组件(131)连接在所述电流镜(140)与所述复制装置(121)之间的所述复制路径(125)中。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的泄漏补偿电路(120)，

其特征在于，所述电流镜(140)包括两个场效应晶体管(141、142)，具体地说，MOS-FET。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的泄漏补偿电路(120)，其特征在于，所述电流镜(140)被配置成可在所述测量电路(110)的测量范围外操作，具体地说，其中所述电流镜(140)包括电荷泵。

8.一种测量装置(100)，其特征在于，包括：

测量电路(110)，所述测量电路(110)包括：

测量路径(115)，以及

泄漏装置(111)，所述泄漏装置(111)连接到所述测量路径(115)且产生泄漏电流(112)；以及

根据权利要求1至7中任一项所述的泄漏补偿电路(120)。

9.一种篡改传感器，其特征在于，所述篡改传感器被配置成感测封闭件是否已被篡改，其中所述篡改传感器包括根据权利要求8所述的测量装置(100)。

10.一种用于补偿测量装置(100)中的泄漏的方法，其特征在于，所述测量装置(100)包括具有泄漏装置(111)的测量电路(110)，所述泄漏装置(111)连接到测量路径(115)且产生泄漏电流(112)，所述方法包括：

提供所述泄漏装置(111)的复制装置(121)，其中所述复制装置(121)连接到复制路径(125)；

通过所述复制装置(121)产生与所述泄漏装置(111)的所述泄漏电流(112)基本相等的复制泄漏电流(122a)；

通过连接到所述测量路径(115)且连接到所述复制路径(125)的电压调节器(130)基于所述测量路径(115)的电压来调节所述复制路径(125)中的电压；以及

通过连接到所述测量路径(115)且连接到所述复制路径(125)的电流镜(140)将所述复制装置(121)的所述泄漏电流(121)镜射到所述测量路径(115)中。