[发明专利]工业分析系统、方法和非暂态计算机可读介质

权利要求书

1.一种工业分析系统，包括：

设备接口部件，被配置成：

从多个分析仪器收集数据，其中，所述多个分析仪器中的每个分析仪器被配置成从多个设备集合中的相应设备集合收集数据，其中，所述多个设备集合在一个或更多个工业系统中执行多个操作；以及

将所述数据传输至分析部件。

2.根据权利要求1所述的工业分析系统，其中，所述数据包括原始数据和/或智能数据，其中，所述智能数据包括一个或更多个智能标签，其中，每个智能标签存储数据项的值和情境元数据，所述情境元数据提供关于所述数据项的值的附加信息。

3.根据权利要求1所述的工业分析系统，还包括至少一个处理器，所述至少一个处理器被配置成发现所述多个分析仪器，并且将所述设备接口部件配置成从所发现的多个分析仪器收集数据。

4.根据权利要求1所述的工业分析系统，其中，所述设备接口部件还被配置成对从所述多个分析仪器接收的数据进行情境化、建模和/或结构化。

5.根据权利要求4所述的工业分析系统，其中，所情境化的、所建模的和/或所结构化的数据被传输至所述分析部件以用于分析。

6.根据权利要求1所述的工业分析系统，其中，所述分析部件被配置成使用从所述设备接口部件接收的数据来生成分析数据，并且将所述分析数据提供给用户接口部件，其中，所述分析数据包括对所述多个设备集合中的每个设备的实时监视和分析。

7.根据权利要求6所述的工业分析系统，其中，所述用户接口部件被配置成经由一个或更多个仪表板实时地呈现所述分析数据。

8.根据权利要求7所述的工业分析系统，其中，所述一个或更多个仪表板包括针对所述多个设备集合中的每个设备集合的设备列表，以及对所述设备列表中的每个设备的分析。

9.一种方法，包括：

通过一个或更多个处理器从第一分析仪器收集第一分析数据，所述第一分析数据包括对第一设备集合的分析；

通过所述一个或更多个处理器从第二分析仪器收集第二分析数据，所述第二分析数据包括对第二设备集合的分析；

通过所述一个或更多个处理器将所述第一分析数据和所述第二分析数据进行组合；以及

将所组合的分析数据传输至分析系统。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述第一设备集合和所述第二设备集合在一个或更多个工业系统中执行多个操作。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述第一分析数据和所述第二分析数据包括原始数据和/或智能数据，其中，所述智能数据包括一个或更多个智能标签，其中，每个智能标签存储数据项的值和情境元数据，所述情境元数据提供关于所述数据项的值的附加信息。

12.根据权利要求9所述的方法，还包括：通过所述一个或更多个处理器发现所述第一分析仪器和所述第二分析仪器。

13.根据权利要求9所述的方法，其中，将所述第一分析数据和所述第二分析数据进行组合包括：对所述第一分析数据和所述第二分析数据进行情境化、建模和/或结构化。

14.根据权利要求9所述的方法，还包括：使用所组合的分析数据来生成可扩展分析数据，其中，所述可扩展分析数据包括对所述第一设备集合和所述第二设备集合中的每个设备的实时监视和分析。

15.根据权利要求14所述的方法，还包括：经由一个或更多个仪表板实时地向用户呈现所述可扩展分析数据。