[发明专利]磁阻位移测量装置在审

专利信息
申请号: 202011279095.7 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN114508993A 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 梅辉;安德里亚斯·沃斯;杨峰 申请(专利权)人: 精量电子(深圳)有限公司;泰连传感器德国有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪洋
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 磁阻 位移 测量 装置
【说明书】:

发明公开一种磁阻位移测量装置,包括:一个磁性标尺,可沿其长度方向移动;和多个磁阻传感器,沿所述磁性标尺的长度方向均匀间隔分布,用于检测所述磁性标尺的位移。所述多个磁阻传感器串联电连接,并且相邻两个磁阻传感器之间的间距等于所述磁性标尺的长度H。在本发明中,通过将多个磁阻传感器串联,可在不增加安装空间的尺寸的情况下增大磁性标尺的行程和减小磁性标尺的长度。

技术领域

本发明涉及一种磁阻位移测量装置。

背景技术

在现有技术中,磁阻位移测量装置通常包括一个磁性标尺和一个磁阻传感器。当磁性标尺相对于磁阻传感器移动时,磁阻传感器与磁性标尺之间的磁场强度会发生周期性变化,这导致磁阻传感器中的磁敏电阻的阻值随磁场强度周期性变化。磁敏电阻的阻值的周期性变化信号在经信号处理电路整形、放大,转换成脉冲信号,最后作为位移测量信号输出。

在现有技术中,安装空间在磁性标尺移动方向上的尺寸最少等于磁性标尺的行程的两倍。如果要求磁性标尺具有较大的行程,就必须增加安装空间在磁性标尺移动方向上的尺寸。但是,安装空间在磁性标尺的移动方向上的尺寸通常是受限的,则会导致磁阻位移测量装置通常不能满足长行程的应用要求。

发明内容

本发明的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。

根据本发明的一个方面,提供一种磁阻位移测量装置,包括:一个磁性标尺,可沿其长度方向移动;和多个磁阻传感器,沿所述磁性标尺的长度方向均匀间隔分布,用于检测所述磁性标尺的位移,所述多个磁阻传感器串联电连接,并且相邻两个磁阻传感器之间的间距等于所述磁性标尺的长度H。

根据本发明的一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为N个,并且N为大于或等于2的正整数;所述磁性标尺在其长度方向上的行程S等于所述磁性标尺的长度H的N倍。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为2个,并且所述磁性标尺在其长度方向上的行程S等于所述磁性标尺的长度H的2倍。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为3个,并且所述磁性标尺在其长度方向上的行程S等于所述磁性标尺的长度H的3倍。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为4个,并且所述磁性标尺在其长度方向上的行程S等于所述磁性标尺的长度H的4倍。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁性标尺可沿其长度方向在一个安装空间中移动。

根据本发明的另一个实例性的实施例,当所述安装空间在所述磁性标尺的长度方向上的尺寸等于L时,所述磁性标尺的长度H被设计成等于L*1/(N+1),所述磁性标尺的行程S被设计成等于L*N/(N+1)。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为2个,所述磁性标尺的长度H被设计成等于L*1/3,所述磁性标尺的行程S被设计成等于L*2/3。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述磁阻传感器的数量为3个,所述磁性标尺的长度H被设计成等于L*1/4,所述磁性标尺的行程S被设计成等于L*3/4。

根据本发明的另一个实例性的实施例,

所述磁阻传感器的数量为4个,所述磁性标尺的长度H被设计成等于L*1/5,所述磁性标尺的行程S被设计成等于L*4/5。

根据本发明的另一个实例性的实施例,所述安装空间在所述磁性标尺的长度方向上的尺寸L被所述N个磁阻传感器等分成N+1等份。

根据本发明的另一个实例性的实施例,每个磁阻传感器具有一个第一输出端和一个第二输出端,并且相邻两个磁阻传感器中的一个的第一输出端与另一个的第二输出端电连接。

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