[发明专利]一种铜箔缺陷检测系统

权利要求书

1.一种铜箔缺陷检测系统，其特征在于，包括：

采集模块，用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像；

处理模块，对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像；

匹配模块，于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像；

对比模块，基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值，生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签。

2.根据权利要求1所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述处理模块包括：

缩放模块，将所述初始图像基于一固定宽度以及一固定高度进行缩放；

补偿模块，对缩放后的初始图像进行光照补偿获得所述标准初始图像。

3.根据权利要求1所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述匹配模块包括：

轮廓获取模块，获取一铜箔标准轮廓；

定位模块，基于所述铜箔标准轮廓于所述标准初始图像进行匹配获得所述待测铜箔的所述检测图像。

4.根据权利要求3所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述对比模块包括：

划分模块，将检测图像划分为多个像素单元，每一所述像素单元包含多个像素；

单元灰度获取模块，根据每一像素单元中的所述像素的灰度值获得所述像素单元的单元灰度值；

差异系数获取模块，基于每一所述像素单元的所述单元灰度与记载于所述标准铜箔图像的对应的灰度范围值，获得所述检测图像的所述差异系数；

标签生成模块，基于所述差异系数大于所述门限值，生成与所述待测铜箔相关联的缺陷标签。

5.根据权利要求4所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述标准铜箔图像包含多个像素单元，每一所述像素图像具有一所述灰度范围值，每一所述像素单元包含多个像素。

6.根据权利要求4所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，每一像素单元的像素数量为4个或9个。

7.根据权利要求2所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述匹配模块还包括：

变换模块，对所述检测图像进行仿射变换，以将所述检测图像平移和旋转至参考位置。

8.根据权利要求3所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述轮廓获取模块还包括：

标准图像模块，获得一标准铜箔的标准图像；

标准轮廓获取模块，于所述标准图像进行轮廓提取获得所述铜箔标准轮廓。

9.根据权利要求8所述的铜箔缺陷检测系统，其特征在于，所述铜箔标准轮廓为正方形。